[发明专利]轴系轴承的配合质量测量方法及测量系统有效

专利信息
申请号: 201911414786.0 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN113124810B 公开(公告)日: 2023-03-24
发明(设计)人: 俱英翠;孙涛;李倩 申请(专利权)人: 新疆金风科技股份有限公司
主分类号: G01B21/16 分类号: G01B21/16
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 刘敏
地址: 830026 新疆维吾尔自治区乌*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 轴承 配合 质量 测量方法 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种轴系轴承的配合质量测量方法,所述轴系包括第一轴(1)、套设于所述第一轴(1)外周侧的第二轴(2)、设置于所述第一轴(1)与所述第二轴(2)之间的轴承(3),以及与所述轴承(3)配合的端盖(4),其特征在于,所述配合质量测量方法包括:

根据所述轴系各部件的材质、形状及尺寸建立所述轴系的三维数据模型;

在所述第一轴(1)的三维数据模型的远离所述端盖(4)的端面上施加第一载荷,并对所述轴系进行有限元分析,以获得所述轴系的轴向位移与所述轴承(3)的游隙之间的第一关系曲线;

将位移传感器(5)安装于所述轴系中,以测量所述轴系的实际轴向位移;

根据所述第一关系曲线及所述位移传感器(5)测得的所述实际轴向位移,得出所述轴承的实际游隙。

2.根据权利要求1所述的配合质量测量方法,其特征在于,还包括:

在所述端盖(4)的三维数据模型上施加第二载荷,并对所述轴系进行有限元分析,以获得所述轴承(3)的游隙与预紧力之间的第二关系曲线;

根据所述轴承(3)的实际游隙及所述第二关系曲线,得出所述轴承(3)的实际预紧力。

3.根据权利要求2所述的配合质量测量方法,其特征在于,在所述端盖(4)的三维数据模型上施加第二载荷,包括:

所述端盖(4)包括与所述轴承(3)的内圈配合的第一端盖(41)和与所述轴承(3)的外圈配合的第二端盖(42),所述轴承为成对安装的单列圆锥滚子轴承;当成对安装的单列圆锥滚子轴承背对背安装时,在所述第一端盖(41)的三维数据模型上施加第二载荷;

当成对安装的单列圆锥滚子轴承面对面安装时,在所述第二端盖(42)的三维数据模型上施加第二载荷。

4.根据权利要求1所述的配合质量测量方法,其特征在于,所述轴系的实际轴向位移为所述第一轴(1)与所述第二轴(2)沿轴向的相对位移;

或者,所述轴系的轴向位移为所述第二轴(2)与所述轴承(3)的内圈沿轴向的相对位移;

或者,所述轴系的轴向位移为所述轴承(3)与所述端盖(4)沿轴向的相对位移。

5.根据权利要求1所述的配合质量测量方法,其特征在于,所述位移传感器(5)设置于所述第一轴(1)或者所述第二轴(2)上,且至少三个所述位移传感器(5)沿所述第一轴(1)或者所述第二轴(2)的周向间隔分布。

6.根据权利要求1至5任一项所述的配合质量测量方法,其特征在于,所述将位移传感器(5)安装于所述轴系中,以测量所述轴系的实际轴向位移,包括:

根据所述轴承(3)的工作状态确定预定预紧力;

根据所述预定预紧力设计所述端盖(4)与所述轴承(3)的配合过盈量,以将所述配合过盈量转化为施加于所述轴系的轴向载荷;

通过所述位移传感器(5)检测所述轴系在所述轴向载荷作用下的实际轴向位移。

7.一种轴系轴承的配合质量测量系统,所述轴系包括第一轴(1)、套设于所述第一轴(1)外周侧的第二轴(2)、设置于所述第一轴(1)与所述第二轴(2)之间的轴承(3),以及与所述轴承(3)配合的端盖(4),其特征在于,所述配合质量测量系统包括:

数据分析单元(10),用于根据所述轴系各部件的材质、形状及尺寸建立所述轴系的三维数据模型,在所述第一轴(1)的三维数据模型的远离所述端盖(4)的端面上施加第一载荷,并对所述轴系进行有限元分析,以获得所述轴系的轴向位移与所述轴承(3)的游隙之间的第一关系曲线;

感测单元(20),包括设置于所述轴系的位移传感器(5),所述感测单元(20)用于检测所述轴系的实际轴向位移;

数据处理单元(30),用于根据所述数据分析单元(10)获得的所述第一关系曲线和所述感测单元(20)检测的所述轴系的实际轴向位移,得出所述轴承(3)的实际游隙。

8.根据权利要求7所述的配合质量测量系统,其特征在于,所述数据分析单元(10)还用于,在所述端盖(4)的三维数据模型上施加第二载荷,并对所述轴系进行有限元分析,以获得所述轴承(3)的游隙与预紧力之间的第二关系曲线。

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