[发明专利]天线辐射方向图显示方法和系统、主控计算机

权利要求书

1.一种天线辐射方向图显示方法，应用于天线辐射方向图显示系统，所述天线辐射方向图显示系统包括天线测试装置和增强现实AR眼镜，所述天线测试装置包括主控计算机，其特征在于，包括：

所述主控计算机根据目标天线的仿真模型获得第一辐射方向图；所述仿真模型是根据所述目标天线的工程参数确定的；所述第一辐射方向图包括第一电场方向图和第一磁场方向图；

所述主控计算机获取第二辐射方向图；所述第二辐射方向图为所述天线测试装置测试所述目标天线获得的辐射方向图，所述第二辐射方向图包括第二电场方向图和第二磁场方向图；

所述主控计算机根据所述第一辐射方向图和所述第二辐射方向图获得第三辐射方向图；所述第三辐射方向图包括第三电场方向图和第三磁场方向图；

所述主控计算机将所述第三辐射方向图发送给所述AR眼镜，以使所述AR眼镜显示所述第三辐射方向图；

在所述主控计算机获取第二辐射方向图之后，还包括：

根据所述仿真模型确定所述第一电场方向图在多个空间点的第一电场以及所述第一磁场方向图在所述多个空间点的第一磁场；所述空间点为所述目标天线辐射的空间中的任一点；

获取所述第二电场方向图在所述多个空间点的第二电场以及所述第二磁场方向图在所述多个空间点的第二磁场；

所述主控计算机根据所述第一辐射方向图和所述第二辐射方向图获得第三辐射方向图，包括：

根据所述第一电场和所述第二电场的平均值确定所述多个空间点的第三电场；所述第三电场为所述第三电场方向图在所述多个空间点的电场；

根据所述第一磁场和所述第二磁场的平均值确定所述多个空间点的第三磁场；所述第三磁场为所述第三磁场方向图在所述多个空间点的磁场；

根据所述多个空间点的所述第三电场和所述第三磁场获得所述第三电场方向图和所述第三磁场方向图；

根据所述第三电场方向图和所述第三磁场方向图获得所述第三辐射方向图。

2.根据权利要求1所述的天线辐射方向图显示方法，其特征在于，所述第三辐射方向图包括第一标记和第二标记；所述第一标记处的所述第一电场等于所述第二电场，所述第一磁场等于所述第二磁场；所述第二标记处的第一电场不等于所述第二电场，所述第一磁场不等于所述第二磁场。

3.一种主控计算机，其特征在于，包括：

仿真模块，用于根据目标天线的仿真模型仿真获得第一辐射方向图；所述仿真模型是根据所述目标天线的工程参数确定的；所述第一辐射方向图包括第一电场方向图和第一磁场方向图；

获取模块，用于获取第二辐射方向图；所述第二辐射方向图为天线测试装置测试所述目标天线获得的辐射方向图，所述第二辐射方向图包括第二电场方向图和第二磁场方向图；

处理模块，用于根据所述仿真模块获得的所述第一辐射方向图和所述获取模块获得的所述第二辐射方向图获得第三辐射方向图；所述第三辐射方向图包括第三电场方向图和第三磁场方向图；

发送模块，用于将所述处理模块获得的所述第三辐射方向图发送给AR眼镜，以使所述AR眼镜显示所述第三辐射方向图；

所述仿真模块，还用于根据所述仿真模型确定所述第一电场方向图在多个空间点的第一电场以及所述第一磁场方向图在所述多个空间点的第一磁场；所述空间点为所述目标天线辐射的空间中的任一点；

所述获取模块，还用于获取所述第二电场方向图在所述多个空间点的第二电场以及所述第二磁场方向图在所述多个空间点的第二磁场；

所述处理模块具体用于：

根据所述第一电场和所述第二电场的平均值确定所述多个空间点的第三电场；所述第三电场为所述第三电场方向图在所述多个空间点的电场；

根据所述第一磁场和所述第二磁场的平均值确定所述多个空间点的第三磁场；所述第三磁场为所述第三磁场方向图在所述多个空间点的磁场；

根据所述多个空间点的所述第三电场和所述第三磁场获得所述第三电场方向图和所述第三磁场方向图；

根据所述第三电场方向图和所述第三磁场方向图获得所述第三辐射方向图。

4.根据权利要求3所述的主控计算机，其特征在于，所述第三辐射方向图包括第一标记和第二标记；所述第一标记处的所述第一电场等于所述第二电场，所述第一磁场等于所述第二磁场；所述第二标记处的第一电场不等于所述第二电场，所述第一磁场不等于所述第二磁场。