[发明专利]数据校准装置及其校准数据存写方法

说明书

本发明涉及一种数据校准装置及其校准数据存写方法，在待校准芯片上电时，第一受控开关模块导通，读写控制模块将OTP存储器存储的校准数据写入待写入寄存器中，在校准数据被写入待写入寄存器后，第一受控开关模块关断而第二受控开关模块导通，总线控制接口恢复控制权。基于此，无需了解OTP存储器的读写过程和数据结构，也无需上位机的控制，读写控制模块可自动将校准数据写入待写入寄存器，完成待校准芯片的校准工作，以降低芯片校准的难度和复杂程度。同时，通过数据校准装置的校准数据存写方法，在读取数据时可根据存储数据的记录，准确获取到对应的校准数据，降低对OTP存储器的要求，提高数据存储的容错率。

技术领域

本发明涉及数据处理方法领域，特别是涉及一种数据校准装置及其校准数据存写方法。

背景技术

芯片作为各种小型化电路的集合，是各种设备数据处理的核心。常见的各种芯片，如温度芯片、电源芯片或模数转换芯片等，在使用前需要进行校准，即通过控制寄存器进行校准。一般的，校准数据会存储在OTP(One Time Programmable，一次性可编程)存储器中。其中，校准数据包括寄存器地址和寄存器数据。在校准过程中，需要先读取寄存器地址，然后将寄存器地址对应的寄存器数据写入到寄存器地址对应的寄存器中，在所有的寄存器数据写入寄存器后，输出状态标志位以指示校准完成。

在传统的芯片校准的过程中，需要上位机的支持。具体的，上位机向SPI(SerialPeripheral Interface，串行外设接口)发送操作命令，SPI再通过寄存器直接控制OTP存储器，从OTP存储器中读取校准数据，最后通过SPI将校准数据中的寄存器数据写入到对应寄存器地址的寄存器中。然而，使用传统的芯片校准方法，芯片校准人员不仅需要使用上位机，还需要了解OTP存储器的读写过程和数据结构，增大了芯片校准的复杂度和不便性。

发明内容

基于此，有必要针对使用传统的芯片校准方法，芯片校准人员不仅需要使用上位机，还需要了解OTP存储器的读写过程和数据结构，增大了芯片校准的复杂度和不便性的缺陷，提供一种数据校准装置及其校准数据存写方法。

一种数据校准装置，包括：

OTP存储器，用于存储待校准芯片的校准数据；

读写控制模块，读写控制模块连接OTP存储器，用于获取校准数据；

第一受控开关模块，第一受控开关模块的一开关端连接读写控制模块，第一受控开关模块的另一开关端用于连接待写入寄存器；其中，在待校准芯片上电时第一受控开关模块导通，读写控制模块用于将校准数据写入待写入寄存器中；在校准数据被写入待写入寄存器后，第一受控开关模块关断；

第二受控开关模块，第二受控开关模块的一开关端用于连接总线控制接口，第二受控开关模块的另一开关端用于连接待写入寄存器；其中，第二受控开关模块用于在校准数据被写入待写入寄存器后导通，否则关断。

上述的数据校准装置，在待校准芯片上电时，第一受控开关模块导通，读写控制模块将OTP存储器存储的校准数据写入待写入寄存器中，在校准数据被写入待写入寄存器后，第一受控开关模块关断而第二受控开关模块导通，总线控制接口恢复控制权。基于此，无需了解OTP存储器的读写过程和数据结构，也无需上位机的控制，读写控制模块可自动将校准数据写入待写入寄存器，完成待校准芯片的校准工作，以降低芯片校准的难度和复杂程度。

在其中一个实施例中，第一受控开关模块的另一开关端用于通过第二受控开关模块连接总线控制接口，以实现第一受控开关模块的另一开关端与待写入寄存器的连接。

在其中一个实施例中，还包括：

第三受控开关，第三受控开关的一开关端用于接入复位信号，第三受控开关的另一开关端用于连接待写入寄存器的复位端；其中，第三受控开关与第二受控开关模块同步导通或关断。

在其中一个实施例中，还包括：