[发明专利]芯片测试系统及方法

权利要求书

1.一种芯片测试系统，其特征在于，包含：

一第一电路板；

一第一芯片载台，电连接该第一电路板；

一参考机台以及一第一芯片测试机台，皆有对一芯片写入参数以进行测试的功能，其中该参考机台或该第一芯片测试机台对该芯片进行测试时，该芯片设置于该第一芯片载台上，该第一电路板电连接该参考机台或该第一芯片测试机台；以及

一标准芯片，该参考机台测试该标准芯片，以得到该标准芯片的一最佳化参数，并且基于该最佳化参数，于该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试以得到一第一测试结果，若该第一测试结果超出一预设规格，则对该第一芯片测试机台进行调机；若该第一测试结果未超出该预设规格，则代表该第一芯片测试机台完成一测试机台校正。

2.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台写入该标准芯片的一编码区，并且该编码区对于该第一芯片测试机台而言是只读的。

3.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台储存于一远端服务器、一可携式存取装置或一电脑，并通过该远端服务器、该可携式存取装置或该电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。

4.如权利要求1所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是通过一电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。

5.如权利要求2至4中任一所述的芯片测试系统，其特征在于，该最佳化参数是关于该标准芯片上的一元件的电阻值或用以加强该标准芯片的稳定度的编码。

6.一种芯片测试方法，其特征在于，包含：

一测试机台校正阶段，该测试机台校正阶段是对具有对一芯片写入参数以进行测试的功能的一第一芯片测试机台进行校正，使该第一芯片测试机台相对于同样具有对一芯片写入参数以进行测试的功能的一参考机台而言符合一预设规格，该测试机台校正阶段包含：

将一标准芯片设置于一第一芯片载台，该第一芯片载台电连接一第一电路板，并且该第一电路板电连接该参考机台；

对该标准芯片进行测试，以得到该标准芯片的一最佳化参数；

将该第一芯片载台、设置于该第一芯片载台的该标准芯片以及电连接该第一芯片载台的该第一电路板改以电连接于该第一芯片测试机台；以及

基于该最佳化参数，于该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试以得到一第一测试结果，若该第一测试结果超出一预设规格，则对该第一芯片测试机台进行调机；若该第一测试结果未超出该预设规格，则代表该第一芯片测试机台完成该测试机台校正阶段；以及

一芯片测试阶段，对一待测芯片进行测试，其包含：

将该待测芯片设置于该第一芯片载台，该第一芯片载台电连接该第一电路板，并将该第一电路板电连接完成该测试机台校正阶段的该第一芯片测试机台；以及

于该第一芯片测试机台上对该待测芯片进行测试。

7.如权利要求6所述的芯片测试方法，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台写入该标准芯片的一编码区，并且该编码区对于该第一芯片测试机台而言是只读的。

8.如权利要求6所述的芯片测试方法，其特征在于，该最佳化参数是通过该参考机台储存于一远端服务器、一可携式存取装置或一电脑，并通过该远端服务器、该可携式存取装置或该电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。

9.如权利要求6所述的芯片测试方法，其特征在于，该最佳化参数是通过一电脑输入该第一芯片测试机台，以在该第一芯片测试机台上对该标准芯片进行测试。

10.如权利要求7至9中任一所述的芯片测试方法，其特征在于，该最佳化参数是关于该标准芯片上的一元件的电阻值或用以加强该标准芯片的稳定度的编码。