[实用新型]滑轨式的非金属环天线测试系统

说明书

本实用新型公开了一种滑轨式的非金属环天线测试系统，包括计算机、控制模块、测量仪器、射频单元、高强度非金属材料的支撑机构、非金属材料的圆弧形滑轨、探头、第一、二驱动装置和转台，转台上能转动的设有被测物定位装置，支撑机构固设于转台上方，滑轨固定于支撑机构上，探头滑动安装于滑轨上，探头滑动过程中始终与转台上被测件正对扫描，计算机分别与测量仪器和控制模块电性连接，测量仪器能通过射频单元与探头和被测件电性连接，第一、二驱动装置分别驱动探头和被测物定位装置运动，控制模块控制第一、二驱动装置工作，本实用新型提高了探头在测试过程中的一致性，减小了系统中金属的散射干扰，提高了测试系统在低频段的测量精度。

技术领域

本实用新型涉及一种天线测试系统，特别涉及一种滑轨式的非金属环天线测试系统。

背景技术

在现有的测试环境中，天线的无源以及OTA测试中，现有的测试场通常是以400MHz为起始测试频率，这是由如今的测试场内部设计决定的。

市场上现有的天线测试系统，主要为多探头测试系统，探头阵列的支撑机构是采用金属环结构。采用金属环形结构的主要原因有两个：第一，如今的多探头天线测试场，采用天线测试探头的重量和体型比较大，同时需要比较多的附带吸波材料等物品，需要环形支撑机构具备一定程度的承重；第二，连接在天线测试探头上的射频线缆需要穿过环体内部，再连接到射频矩阵开关上。随着天线探头数量增加，对应的射频链接线缆也会增多，测试环的承重要求也增高，采用金属材料设计，能够确保测试环的稳定性。

但是在400MHz以下的测试频段中，测试场内出现金属结构的材料，都会对测试产生影响，导致测试结果精度降低。传统的解决金属材料干扰问题的方法是在金属表面添加吸波材料，降低金属材料的散射等干扰信号，但吸波材料在低频(例如70-400MHz)带来的改善非常有限，并且多个探头带来的不一致性增加了探头校准的难度，对提高测试精度造成了严重的影响，的因此需要有新的方法来解决该问题。

实用新型内容

为了弥补以上不足，本实用新型提供了一种滑轨式的非金属环天线测试系统，该滑轨式的非金属环天线测试系统最大程度上避免了金属材料的使用，减小了系统中金属的散射干扰，提高了测试系统在低频段(70MHz-400MHz)的测量精度。

本实用新型为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种滑轨式的非金属环天线测试系统，包括计算机、控制模块、测量仪器、射频单元、高强度非金属材料制成的支撑机构、非金属材料制成的圆弧形滑轨、探头、第一驱动装置、第二驱动装置和转台，所述转台上能够转动的设有被测物定位装置，支撑机构固定架设于转台上方，所述圆弧形滑轨固定安装于支撑机构上，探头能够滑动的安装于圆弧形滑轨上，且探头滑动过程中始终与转台上被测件正对扫描，所述计算机分别与测量仪器和控制模块电性连接，测量仪器能够通过射频单元与探头和转台上的被测件电性连接，第一驱动装置和第二驱动装置分别驱动探头和被测物定位装置运动，控制模块控制第一驱动装置和第二驱动装置工作。

作为本实用新型的进一步改进，所述支撑机构为由低介电常数材料制成的环形结构。

作为本实用新型的进一步改进，所述非金属材料制成的圆弧形滑轨上能够滑动的设有非金属材料制成的滑块，探头固定安装于滑块上。

作为本实用新型的进一步改进，所述转台上的被测物恰位于圆弧形滑轨的圆心上。

作为本实用新型的进一步改进，所述圆弧形滑轨的形状为圆环形结构、半圆环型结构或1/4圆环形结构。

作为本实用新型的进一步改进，所述圆弧形滑轨为两个半圆环形结构或者多个1/4圆环形结构拼接而成。

作为本实用新型的进一步改进，所述探头为单极化光纤探头和双极化光纤探头中的一种。