[实用新型]一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具

说明书

本实用新型公开了一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具，包括基座，所述基座的后侧连接有背板，背板的底端通过导杆穿过上板与基座连接，背板上设有平行的竖直滑槽，竖直滑槽通过高度调节旋钮连接有滑板，滑板上的孔位通过轴转动连接有手动把手，压合推杆的底部通过固定块打上螺栓固定连接有上板，上板的右侧设有向下的测试针A，上板的正下方设有中板，中板通过滑动导柱与下板连接，下板右侧正对的测试针A的位置设有向上设置的测试针B，下板固定在基座的表面。该可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具，由于采用焊点探针接触的方式，避免人为反复焊接带来的端子产品的损坏，减轻人体作业强度缓解疲劳损伤，节约人力成本。

技术领域

本实用新型涉及测试治具，具体涉及一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具。

背景技术

目前尤其是手机市场上出现越来越多的专用连接器接头，含有复杂的芯片货PCB加工工艺，其功能复杂，加工难度也比较高，其测试又是诸多工厂的难点。

现有技术问题点：产品在生产过程中无法避免会出现不良的产品，而本产品是需要将芯线焊接至连接器PCB板焊点才能实现完整的功能测试。

其存在以下缺陷：

一，端子需要人工焊接芯线才能进行功能测试判定。

二，即使功能良好的连接器，二次或多次焊接容易导致连接器的损坏。

三，测试完成需要手工拆卸端子及连接线，也可能造成一定比例的损坏。

四，测试要求高，具有一定焊接和测试经验的人才能完成此项工作。

五，焊接测试前后需要的时间长，判定效率低，且需反复拆卸芯线，耗费人力物力！

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具，包括基座，所述基座的后侧连接有背板，背板的底端通过导杆穿过上板与基座连接，背板上设有平行的竖直滑槽，竖直滑槽通过高度调节旋钮连接有滑板，滑板上的孔位通过轴转动连接有手动把手，手动把手的孔位通过销轴与连接件的一端连接，连接件的另一端通过销轴连接有压合推杆，压合推杆的底部通过固定块打上螺栓固定连接有上板，上板的右侧设有向下的测试针A，上板的正下方设有中板，中板通过滑动导柱与下板连接，下板右侧正对的测试针A的位置设有向上设置的测试针B，下板固定在基座的表面。

优选的，所述上板的右部靠近测试针A的位置设有测试针过线孔。

优选的，所述中板的右侧正对测试针A和测试针B的位置设有避空位，且中板上表面设有固定槽。

优选的，所述基座的正面设有外部设备接口。

本实用新型的技术效果和优点：该可实现密集焊点定点定位探针接触式功能测试治具，采用全新设计定点定位接触式探针测试装置，操作简单，被测试端子产品可直接放在治具定位槽上，轻按压下手摇柄，使定点定位的上下面探针同时接触PCB板上下表面所需测试的功能焊点；由于采用焊点探针接触的方式，避免人为反复焊接带来的端子产品的损坏，减轻人体作业强度缓解疲劳损伤，其次，探针接触式功能测试效率远高于人工焊接时功能测试，实现效率和品质都提升，从而达到节约人力成本。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的右视图。