[实用新型]单光子雪崩二极管、主动式淬灭电路、脉冲式TOF传感器以及成像装置有效
申请号: | 201920051759.0 | 申请日: | 2019-01-10 |
公开(公告)号: | CN209912885U | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 徐渊;王育斌;陈享;陈志芳;潘安;黄志宇 | 申请(专利权)人: | 深圳技术大学 |
主分类号: | H01L31/14 | 分类号: | H01L31/14 |
代理公司: | 44362 深圳快马专利商标事务所(普通合伙) | 代理人: | 赵亮;刘朗星 |
地址: | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 离子区 深n阱 衬底 单光子雪崩二极管 环绕 淬灭 反向击穿电压 二极管 成像装置 探测效率 探测状态 雪崩效应 脉冲式 主动式 传感器 触发 击穿 申请 电路 延伸 恢复 | ||
本申请提供单光子雪崩二极管、主动式淬灭电路、脉冲式TOF传感器以及成像装置,单光子雪崩二极管包括:P型衬底;深n阱,其形成于P型衬底的上方;第一N阱区形成于深n阱的上方;第一P+离子区形成于第一N阱区的上方;P阱区,其环绕第一N阱区和第一P+离子区设置于深n阱内;第二N阱区,其环绕P阱区设置在深n阱内,第二N阱区延伸到P型衬底上;第一N+离子区,其形成与第二N阱区;以及第二P+离子区,其环绕第二N阱区设置于P型衬底上。本申请能够升了反向击穿电压,避免了二极管的提前击穿,从而提升了探测效率,还能够加快完全淬灭器件雪崩效应的速度,抑制单光子雪崩二极管在恢复探测状态的时候再次被触发。
技术领域
本申请涉及传感器领域,尤其涉及单光子雪崩二极管、主动式淬灭电路、脉冲式TOF传感器以及成像装置。
背景技术
关于SPAD(Single Photon Avalanche Diode,单光子二极管)深度图像国内外研究的情况如下。国外研究现状:1998年,林肯实验室第一次将读出电路和 Gm-APD(Avalanche Photondiode)阵列集成在同一块基片上,并且制造出4×4 的Gm-APD面阵。2002年,林肯实验室宣布制造出了由1024个Gm-APD构成的探测芯片,该芯片采用桥接集成技术,能够在极微弱光的条件下进行单光子探测。2005年,Cristiano Niclass等人首次在0.8μm的标准CMOS (Complementary Metal-Oxide-Semiconductor)工艺上成功制造出了32×32的 SPAD深度图像传感器,这个传感器没有ADC(Analog-to-Digital Converter),所有像素输出均为数字信号。2008年,Cristiano Niclass等人将TDC(Time to digitalconverter)与128×128的SPAD阵列集成在一起,取得了非常好的效果,在460nm 的波段内的探测效率达到了46%。2011年,Cristiano Niclass等人用了10×10 个SPAD组成一个大像素,测距达到了50m,效果非常好。2012年,日本丰田研究中心Cristiano Niclass成功将SPAD阵列与MEMS(Microelectromechanical Systems)激光扫描结合在一起,制造出了一种高性能的深度图像传感器。2013 年,日本丰田研究中心的Cristiano Niclass成功使用32个大像素的传感器通过机械扫描的方式得到了340×96像素的图像,测量的距离达到了100m。2015年, Rudi Lussana等人提出了一种32×32的高帧率SPAD阵列相机,并且可将2D图像和3D图像结合在一起。2017年,Cristiano Niclass,Mineki Soga和Edoardo Charbon提出了快速评估基于单光子检测器的数学模型。
国内研究现状:2013年,南京邮电大学硕士设计了SPAD器件并做成了4 ×4的阵列进行流片测试。2014年,重庆大学实验室通过0.5μm的CMOS工艺设计了SPAD器件模型,并对比了不同结构的特点,此外还完成了淬灭电路的设计。2015年,在东南大学硕士毕业论文中,提出了两种可用于大规模SPAD 阵列的淬灭电路。2016年,北京工业大学实验室对InGaAs/InP雪崩光电二极管进行设计和研究。2017年,北方工业大学硕士设计开发了用于量子雷达系统接收部分的单光子计数器,并且研究了APD结构。
目前国内外研究设计的SPAD,大部分缺少内部电场击穿保护措施,一方面要抑制边缘击穿电场,另一方面要提高中心区的击穿电压。目前大部分设计未用任何措施来提升这两方面的性能,部分设计采取了N阱或N阱保护环的设计,但是这种情况下结区边缘存在较大的击穿电场,中心区的击穿电压也偏低,因此,传统的SPAD存在容易被提前击穿以及探测效率低下的问题。
发明内容
本申请提供一种单光子雪崩二极管、主动式淬灭电路、脉冲式TOF传感器以及成像装置,能够在解决现在的单光子雪崩二极管的结构缺少内部电场击穿保护措施而导致二极管容易被击穿以及探测效率低下问题。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的