[实用新型]校准冲击试样缺口投影仪用标准样板有效

专利信息
申请号: 201920052481.9 申请日: 2019-01-14
公开(公告)号: CN209589815U 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: 王玲玲;邢增胜;赵国信;段海涛;刘晓兰;周建伟 申请(专利权)人: 沧州市计量测试所
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01;G01B9/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 061000 *** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 投影仪 冲击试验 缺口试样 遮光图形 校准 标准样板 透明板体 冲击试样缺口 本实用新型 刻线图案 校准过程 贴合 物镜 测量 验证
【说明书】:

实用新型公开了一种校准冲击试样缺口投影仪用标准样板,包括透明板体以及设置于透明板体上的遮光图形,所述遮光图形包括V型缺口校准用图形或者U型缺口校准用图形,工作人员将透明板体置于冲击试验缺口试样投影仪的物镜下方,然后在视场内选择所需的遮光图形使之尝试与冲击试验缺口试样投影仪标准样板上对应的刻线图案贴合即可,由于遮光图形的大小尺寸一定,所以可以快速验证冲击试验缺口试样投影仪的准确与否,大大加快了冲击试验缺口试样投影仪的测量校准过程。

技术领域

本实用新型涉及冲击试验缺口试样投影仪测量校准器材领域,具体涉及一种校准冲击试样缺口投影仪用标准样板。

背景技术

众所周知,冲击试验对于冲击试样缺口要求严格,缺口的微小变化,都会引起试验结果出现误差,为保证加工出的冲击试样缺口合格,缺口的加工质量检验是一个重要的控制手段,目前应用冲击试验缺口试样投影仪将冲击试样缺口进行光学投影放大检查是唯一切实可行,并能保证冲击试样缺口质量的方法;但是目前冲击试验缺口试样投影仪的测量校准较为繁琐,尤其是冲击试验缺口试样投影仪标准样板上V型缺口和U型缺口的测量校准需要使用万能工具显微镜多次进行读数、测量然后计算才能得出测量校准结果,费时费力,不利于冲击试验缺口试样投影仪的快速测量校准,所以,需要一种可以快速校准冲击试验缺口试样投影仪的器材。

实用新型内容

针对背景技术中存在的问题,本实用新型的目的在于提供一种校准冲击试样缺口投影仪用标准样板,其有效解决了背景技术中存在问题。

为实现上述目的,本实用新型采用以下技术方案:

校准冲击试样缺口投影仪用标准样板,包括透明板体以及设置于透明板体上的遮光图形,所述遮光图形包括V型缺口校准用图形或者U型缺口校准用图形;

所述V型缺口校准用图形包括水平排列的A、B、C三个等腰三角形,所述 A、B、C的顶角分别为43°、45°和47°,A的下侧和上侧分别对应设置有顶角为43°加减12′的A′和A″两个等腰三角形,B的下侧和上侧分别对应设置有顶角为45°加减12′的B′和B″两个等腰三角形,C的下侧和上侧分别对应设置有顶角为47°加减12′的C′和C″两个等腰三角形,各等腰三角形内均设置有第一圆形部,所述第一圆形部与等腰三角形的两腰相切,所述A、B、C内的第一圆形部的半径分别为0.225mm、0.250mm和0.275mm,所述A、B、C内的第一圆形部的弧顶距底边的距离分别为1.975mm、2mm和2.025mm;所述A′和A ″内的第一圆形部的半径分别为0.225mm加减0.005mm,所述A′和A″内的第一圆形部的弧顶距底边的距离分别为1.975mm加减0.005mm;所述B′和B″内的第一圆形部的半径分别为0.250mm加减0.005mm,所述B′和B″内的第一圆形部的弧顶距底边的距离分别为2mm加减0.005mm;所述C′和C″内的第一圆形部的半径分别为0.275mm加减0.005mm,所述C′和C″内的第一圆形部的弧顶距底边的距离分别为2.025mm加减0.005mm;

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