[实用新型]输出阻抗调整装置

说明书

一种输出阻抗调整装置，包括：一参考电流源、一可调电阻器、一电阻侦测器、一映射模块以及一控制器。参考电流源用于产生一参考电流。可调电阻器具有一第一端和一第二端，其中参考电流流经可调电阻器。电阻侦测器根据参考电流和可调电阻器的第一端和第二端之间的一电位差来估算可调电阻器的一初始电阻值。映射模块用于储存一映射表，其中映射模块根据初始电阻值来查询映射表，以产生一调整信号。控制器根据调整信号来产生一控制信号，以更新可调电阻器，其中更新后的可调电阻器具有一最终电阻值。本实用新型可在极短时间内完成校正程序，并在有制程变异的情况下仍能提供准确的输出阻抗，从而有助于最佳化芯片端的操作性能。

技术领域

本实用新型关于一种输出阻抗调整装置，特别是关于适用于内建自我测试(Built-In Self-Test，BIST)系统的输出阻抗调整装置。

背景技术

在集成电路(Integrated Circuit，IC)的芯片进入大量生产之前，必须先经过自动测试设备(Automated Test Equipment，ATE)作一次最后上线前测试。然而，由于自动测试设备的每单位使用时间非常昂贵，设计者通常会找寻其他替代方案。例如，若芯片(Chip)具有内建自我测试(Built-In Self-Test，BIST)系统，即可节省许多自动测试设备的使用时间。然而，现存的内建自我测试系统仍有许多缺陷，有必要提出一种全新的解决方法加以改进。

实用新型内容

在较佳实施例中，本实用新型提供一种输出阻抗调整装置，设置于芯片中，所述输出阻抗调整装置包括：参考电流源，产生参考电流；可调电阻器，具有第一端和第二端，其中该参考电流流经该可调电阻器，其中该第一端耦接于该芯片的第一输出节点，该第二端耦接于该芯片的第二输出节点；电阻侦测器，根据该参考电流和该可调电阻器的该第一端和该第二端之间的电位差来估算该可调电阻器的初始电阻值；映射模块，储存映射表，其中该映射模块根据该初始电阻值来查询该映射表，以产生调整信号；以及控制器，根据该调整信号来产生控制信号，以更新该可调电阻器，其中更新后的该可调电阻器具有固定的最终电阻值。

在一些实施例中，该映射模块将包括多个调整位的该调整信号输出至该控制器，而该控制器将包括与该多个调整位对应的多个控制位的该控制信号输出至该可调电阻器。

在一些实施例中，该可调电阻器包括可调部分和固定部分，其中该可调电阻器的该可调部分和该固定部分包含的晶体管皆具有相同尺寸，该可调部分和该固定部分包含的电阻器皆具有相同电阻值，且该可调部分和该固定部分使用对称的线路布局。

在一些实施例中，该可调电阻器的该可调部分包括：多个第一电阻器，各具有第一端和第二端；多个第一晶体管，各具有控制端、第一端以及第二端，其中各该第一晶体管的该控制端用于接收对应的该多个控制位之一，各该第一晶体管的该第一端耦接至对应的该多个第一电阻器之一的该第一端，而各该第一晶体管的该第二端耦接至该可调电阻器的该第一端；多个第二晶体管，各具有控制端、第一端以及第二端，其中各该第二晶体管的该控制端用于接收对应的该多个控制位之一，各该第二晶体管的该第一端耦接至该可调电阻器的该第二端，而各该第二晶体管的该第二端耦接至对应的该多个第一电阻器之一的该第二端。

在一些实施例中，该可调电阻器的该固定部分包括：多个第二电阻器，各具有一第一端和一第二端；多个第三晶体管，各具有控制端、第一端以及第二端，其中各该第三晶体管的该控制端耦接至供应电位，各该第三晶体管的该第一端耦接至对应的该多个第二电阻器之一的该第一端，而各该第三晶体管的该第二端耦接至该可调电阻器的该第一端；多个第四晶体管，各具有控制端、第一端以及第二端，其中各该第四晶体管的该控制端耦接至该供应电位，各该第四晶体管的该第一端耦接至该可调电阻器的该第二端，而各该第四晶体管的该第二端耦接至对应的该多个第二电阻器之一的该第二端。