[实用新型]一种新型开尔文测试机构

说明书

本实用新型提供了一种新型开尔文测试机构，包括底座、测试台、调高装置，所述测试台上设有让位槽，所述让位槽内设有测试托料柱，所述测试托料柱顶端设有产品放置槽，所述测试托料柱两侧分别设有左测试组件、右测试组件，所述左测试组件包括第一测试片、以及与所述第一测试片间隔并列设置的第二测试片，所述右测试组件包括第三测试片、以及与所述第三测试片间隔并列设置的第四测试片，所述产品放置槽两侧分别设有左限位槽、右限位槽，所述第一测试片、第二测试片一端位于所述左限位槽内，所述第三测试片、第四测试片一端位于所述右限位槽内。本实用新型的开尔文测试机构，用于对二极管的性能测试，测试操作简单，测试结果精确。

技术领域

本实用新型涉及二极管检测设备技术领域，具体涉及一种新型开尔文测试机构。

背景技术

对于功率器件芯片的正反压降或通态电阻的测试，为了提高测试的精度，通常采用开尔文测试法。开尔文测试就是通常所说的四线测试法，四线测试法的目的是扣除导线电阻带来的压降。一般30厘米长导线的等效电阻大概是十毫欧姆到百毫欧姆，如果通过导线的电流足够大(比如是安培级的话)，那么导线两端的压降就达到几十到上百毫伏。

目前，开尔文测试法的设备一般有四个测试探针，将测试测针连接在被测电子元件的两端，其中两个测试探针形成回路作为电流供给电子元件，另外两个探针作为高阻抗测量。使用这种测试方法，排线阻抗、接触阻抗等内部阻抗皆可忽略，因此可提高测试精度。

现有的测试方式一般是将探针做成夹子状的测试夹，测试夹接触待测电子元件的接触脚，从而进行测试，然而，对于二极管、三极管等尺寸较小的部件，测试需要固定其位置，操作困难，测试效率低。

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型提供一种新型开尔文测试机构，用于对二极管的性能测试，测试操作简单，测试结果精确。

为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来解决：

一种新型开尔文测试机构，包括底座、位于所述底座上侧的测试台、以及连接在所述底座与所述测试台之间的调高装置，所述测试台上设有让位槽，所述让位槽内设有测试托料柱，所述测试托料柱顶端设有产品放置槽，所述测试托料柱两侧分别设有左测试组件、右测试组件，所述左测试组件包括第一测试片、以及与所述第一测试片间隔并列设置的第二测试片，所述右测试组件包括第三测试片、以及与所述第三测试片间隔并列设置的第四测试片，所述产品放置槽两侧分别设有左限位槽、右限位槽，所述第一测试片、第二测试片一端位于所述左限位槽内，所述第三测试片、第四测试片一端位于所述右限位槽内。

具体的，所述调高装置包括固定在所述底座一侧的第一安装板、固定在所述测试台一侧的第二安装板、以及固定在所述第一安装板上的千分尺，所述千分尺的输出端与所述第二安装板固定连接。

具体的，所述测试托料柱下端还连接有弹簧，所述弹簧位于所述底座内部。

具体的，所述左测试组件中部还设有左固定板，所述左固定板上设有左限位板，所述左限位板上端盖设有左压板，所述右测试组件中部还设有右固定板，所述右固定板上设有右限位板，所述右限位板上端盖设有右压板。

具体的，所述第一测试片与所述第二测试片之间相对的侧面、所述第三测试片与所述第四测试片之间相对的侧面均涂覆有绝缘涂层。

具体的，所述测试台上还设有第一固定针、第二固定针、第三固定针、第四固定针，所述第一测试片另一端与所述第一固定针接触，所述第二测试片另一端与所述第二固定针接触，所述第三测试片另一端与所述第三固定针接触，所述第四测试片另一端与所述第四固定针接触。

具体的，所述底座与所述测试台之间还连接有调高板。

本实用新型的有益效果是：