[实用新型]一种应用于全光开关和光存储器的光学双稳态器件有效

专利信息
申请号: 201920111376.8 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN209182628U 公开(公告)日: 2019-07-30
发明(设计)人: 赵东 申请(专利权)人: 湖北科技学院
主分类号: G02F3/02 分类号: G02F3/02
代理公司: 咸宁鸿信专利代理事务所(普通合伙) 42249 代理人: 汪彩彩;阳会用
地址: 437100 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 电介质层 石墨烯层 光学双稳态器件 本实用新型 光存储器 全光开关 全光通信系统 光学双稳态 多层结构 上表面 下表面 应用
【权利要求书】:

1.一种应用于全光开关和光存储器的光学双稳态器件,其特征在于,本光学双稳态器件为八个电介质层一(A)、八个电介质层二(B)和十五个石墨烯层(G)组成的多层结构,且本光学双稳态器件由上表面至下表面依次为电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层一(A)、石墨烯层(G)、电介质层二(B)、石墨烯层(G)、电介质层一(A);所述电介质层一(A)的材料为MgF2晶体,所述电介质层二(B)的材料为ZnS晶体。

2.根据权利要求1所述一种应用于全光开关和光存储器的光学双稳态器件,其特征在于,所述电介质层一(A)的厚度为da=0.281μm,折射率为na=1.38。

3.根据权利要求1所述一种应用于全光开关和光存储器的光学双稳态器件,其特征在于,所述电介质层二(B)的厚度为db=0.165μm,折射率为na=2.35。

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