[实用新型]图像传感器和成像系统有效

专利信息
申请号: 201920148080.3 申请日: 2019-01-28
公开(公告)号: CN209593605U 公开(公告)日: 2019-11-05
发明(设计)人: R·S·约翰森 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H04N5/369 分类号: H04N5/369;H04N17/00
代理公司: 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 代理人: 王琳;姚开丽
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 图像传感器 重叠电路 成像系统 本实用新型 电路故障 验证电路 检测 备用电路 错误信号 电路失效 技术效果 冗余电路 常规的 配备 测试 配置
【说明书】:

实用新型涉及一种图像传感器和一种成像系统,并且具体地讲,涉及一种图像传感器以及一种配备有抗重叠电路和验证电路的成像系统。本实用新型解决的技术问题是具有抗重叠电路的常规的图像传感器可能具有在所述图像传感器的操作之前未检测到的电路故障和/或在故障的情况下未配备有备用电路。根据各种实施方案,所述图像传感器被配置成测试和/或确定所述抗重叠电路的功能性。在各种实施方案中,所述抗重叠电路可以采用冗余电路和/或设备。在检测到电路失效的情况下,所述图像传感器生成错误信号。本实用新型实现的技术效果是提供图像传感器以及具有验证电路的成像系统以检测所述抗重叠电路的电路故障。

技术领域

本实用新型涉及一种图像传感器和一种成像系统,并且具体地讲,涉及一种图像传感器以及一种配备有抗重叠电路和验证电路的成像系统。

背景技术

图像传感器可配备有抗重叠(anti-eclipse)电路,其防止和/或校正在一个或多个像素被暴露于亮光条件时产生的伪影。亮光条件导致电子从光电二极管溢出到浮动扩散区中,这产生了有错误的信号。例如,在重置操作期间采样的重置信号可表现出小于所期望的重置电平的电压电平。因此,像素信号的电压也偏离到不期望的小值,并且在其应是亮点时其本身表现为暗点。这种现象一般称为“重叠”或“黑日伪影”。

将抗重叠电路连接到其他控制电路的电路路径可能经历故障,诸如断裂和/或断开的接线/连接,这些故障阻止抗重叠电路以期望的方式操作。常规的测试方法不能检测这种故障,并且仅在图像传感器操作期间才能发现故障。此外,被配备有抗重叠电路的常规的图像传感器不采用任何自测试方法,也不具有在电路故障的情况下可被激活的备用电路。

实用新型内容

本实用新型涉及图像传感器和成像系统,并且具体地讲,涉及图像传感器以及配备有抗重叠电路和验证电路的成像系统。

本实用新型解决的技术问题是具有抗重叠电路的常规的图像传感器可能具有在图像传感器的操作之前未检测到的电路故障和/或在故障的情况下未配备有备用电路。

根据各种实施方案,图像传感器被配置成测试和/或确定抗重叠电路的功能性。在各种实施方案中,抗重叠电路可以采用冗余电路和/或设备。在检测到电路失效的情况下,图像传感器生成错误信号。

根据一个方面,图像传感器包括:像素阵列,该像素阵列包括被布置成行和列的多个像素;抗重叠电路,该抗重叠电路连接到一列像素并且包括:第一晶体管,该第一晶体管响应于第一重叠信号;和第一重叠使能晶体管;验证电路,该验证电路连接到抗重叠电路并且被配置成:控制第一重叠信号的电压电平;以及检测抗重叠电路中的故障。

在上述图像传感器的一个实施方案中,抗重叠电路还包括第二晶体管,该第二晶体管响应于第二重叠信号。

在上述图像传感器的一个实施方案中,第一晶体管直接地连接到第一重叠使能晶体管,并且第二晶体管直接地连接到第二重叠使能晶体管。

在上述图像传感器的一个实施方案中,第一晶体管和第二晶体管彼此并联连接并且直接地连接到第一重叠使能晶体管。

在上述图像传感器的一个实施方案中,验证电路将第一重叠信号的电压电平设定为以下之一:第一电压电平和第二电压电平。

在上述图像传感器的一个实施方案中,验证电路经由开关选择性地连接到抗重叠电路。

在上述图像传感器的一个实施方案中,验证电路:将第一电压电平施加到第一晶体管;根据被施加的第一电压电平来读出第一测试输出电压;将第二电压电平施加到第一晶体管;根据被施加的第二电压电平来读出第二测试输出电压;通过从第二测试输出电压减去第一测试输出电压来计算差输出电压;以及如果差输出电压超过预定范围,那么生成错误信号。

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