[实用新型]适用于自动上下料的样品架装置有效

专利信息
申请号: 201920172936.0 申请日: 2019-01-31
公开(公告)号: CN209507104U 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 孙元鹏;张文亮;张军辉;朱阳军 申请(专利权)人: 山东阅芯电子科技有限公司
主分类号: B65G61/00 分类号: B65G61/00;B65G47/90;G01R31/26
代理公司: 苏州国诚专利代理有限公司 32293 代理人: 韩凤
地址: 264315 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 纵梁 托板 抓取输送机构 本实用新型 自动上下料 样品架 横梁 载板 适配连接 样品测试 叠放 抓取 测试效率 横向运输 驱动机构 驱动托板 托板升降 托板支架
【说明书】:

本实用新型涉及一种适用于自动上下料的样品架装置,属于样品测试的技术领域。按照本实用新型提供的技术方案,所述适用于自动上下料的样品架装置,包括横梁以及位于所述横梁下方的两根纵梁,在每根纵梁上均设置允许样品载板叠放的托板,所述托板通过托板支架与纵梁适配连接;还包括用于驱动托板在纵梁上升降的托板升降驱动机构以及能抓取并横向运输样品载板的横向抓取输送机构,所述横向抓取输送机构与横梁适配连接,通过横向抓取输送机构能将一纵梁的托板最上方的样品载板输送并叠放至另一纵梁的托板上。本实用新型结构紧凑,能实现大批量的样品测试,减少人工更换时间,提高测试效率,安全可靠。

技术领域

本实用新型涉及一种样品架,尤其是一种适用于自动上下料的样品架装置,属于样品测试的技术领域。

背景技术

功率半导体器件在对其动态特性进行测试时,目前主要是以人工操作为主。首先,人工将测试样品放在测试平台上,正对于测试头下方,然后点击测试按钮,机构将样品顶起,与测试头接触进行测试,测试结束后,点击结束按钮,机构将样品放下,然后由人工将样品从测试平台取下,进行下一个样品的测试,如此反复。

显然,这种测试方法在人身安全及测试效率上都得不到保障,人力成本,时间成本也都是极大的浪费。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种适用于自动上下料的样品架装置,其结构紧凑,能实现大批量的样品测试,减少人工更换时间,提高测试效率,安全可靠。

按照本实用新型提供的技术方案,所述适用于自动上下料的样品架装置,包括横梁以及位于所述横梁下方的两根纵梁,在每根纵梁上均设置允许样品载板叠放的托板,所述托板通过托板支架与纵梁适配连接;

还包括用于驱动托板在纵梁上升降的托板升降驱动机构以及能抓取并横向运输样品载板的横向抓取输送机构,所述横向抓取输送机构与横梁适配连接,通过横向抓取输送机构能将一纵梁的托板最上方的样品载板输送并叠放至另一纵梁的托板上。

所述样品载板内设置若干与待测样品适配的样品放置区,在所述样品载板的背面设置均匀分布的载板定位柱,在所述样品载板的正面设置允许另一样品载板的载板定位柱嵌置的载板定位柱嵌置孔,同一样品载板上的载板定位柱嵌置孔与载板定位柱正对应;

在托板上设置与载板定位柱适配的托板定位柱嵌置孔,且托板上的托板定位柱嵌置孔的数量与每个样品载板背面的载板定位柱的数量相一致;

样品载板在托板上叠放时,邻近托板的样品载板的载板定位柱嵌置于托板定位柱嵌置孔内;相邻的样品载板间,位于上方的样品载板的载板定位柱嵌置于下方样品载板的载板定位柱嵌置孔内。

所述托板升降驱动机构包括设置于纵梁上的托板驱动电机,通过托板驱动电机能驱动托板在纵梁上沿所述纵梁的长度方向运动。

在样品放置区内还设置若干均匀分布的样品定位柱,所述样品定位柱与待测样品端角的样品定位孔适配,待测样品置于样品放置区内时,样品定位柱能从待测样品的样品定位孔内穿出。

所述横向抓取输送机构包括与样品载板适配的抓取框架,在所述抓取框架内设置允许样品载板嵌置的框架内孔,抓取框架上设置与横梁适配连接的框架连接体,在抓取框架的两端设置用于夹取抓取框架内样品载板的夹紧气缸,所述夹紧气缸的活塞杆设置夹紧连板,夹紧气缸通过夹紧连板能对位于抓取框架的样品载板进行夹紧。

在所述夹紧连板上设置下夹紧定位块以及上夹紧定位块,所述上夹紧定位块与下夹紧定位块之间的距离与样品载板的厚度适配;

在样品载板上设置载板夹紧定位槽,样品载板通过载板夹紧定位槽能置于上夹紧定位块与下夹紧定位块之间。

在横梁上设置用于驱动框架连接体在横梁上运动的横向运动驱动机构。

在托板内设置贯通所述托板的托板孔。

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