[实用新型]宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针

说明书

一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针，包括针杆和圆球测量头，所述针杆为圆柱体，该圆柱体的一端设有一圆柱凸台，该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径，针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面，该切平面中心设有一圆柱盲孔，该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合，所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定。

技术领域

本实用新型涉及测量领域，具体涉及一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针。

背景技术

在设有球面凹槽的宝石元件中，很多宝石元件的球面凹槽设置有竖直的细微孔，通常这种细微孔的孔径≤0.10mm。在加工过程中，这种细微孔的直孔段长度公差≤0.01mm，测量精度≤0.001mm，由此常常会遇见带球面凹槽的宝石元件直孔段长度的精确测量问题。如采用50倍卧式投影仪检测，测量精度为0.01mm左右，无法达到测量精度为0.001mm直孔段长度检测的要求，且不适合生产现场批量检测。又如采用数显投影仪检测,由于设备本身精度、检验人员变化和视觉习惯等因素影响,测量误差在0.003mm，也无法达到测量精度为0.001mm直孔段长度检测的要求，且不适合批量检测。也有采用千分表测针来测量直孔段长度，但是千分表测针为一体结构，其测量端头在测量宝石元件时，磨损较快，严重影响测量精度，测量端头一旦磨损，就只能将整个测量针报废，造成企业检测成本增大。并且由于一体结构的千分表测针对测量头的加工难度较大，难于保证测量头的表面粗糙度和尺寸的一致性，每批次测量针检测精度都会受到严重影响，不利于宝石元件加工的质量检测。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有技术对应的不足，提供一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针，既能达到测量要求，又可以节省材料，易于生产，而且还便于安装的。

本实用新型的目的是采用下述方案实现的：一种宝石元件球面凹槽中细微孔长度的测量针，包括针杆和圆球测量头，所述针杆为圆柱体，该圆柱体的一端设有一圆柱凸台，该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径，针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面，该切平面中心设有一圆柱盲孔，该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合，所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定。

所述圆球测量头的球半径小于球面凹槽的球半径，且大于细微孔的半径。

所述圆球测量头套在圆柱凸台上，圆柱凸台与圆球测量头的配合间隙为0.01~0.02mm。

所述圆球测量头的精度等级至少为G10级。

所述圆柱盲孔的深度大于所述圆柱凸台的长度。

所述圆柱凸台顶端设置有倒角。

由于采用了上述技术，所述针杆为圆柱体，该圆柱体的一端设有一圆柱凸台，该圆柱凸台的直径小于所述针杆的直径，针杆端面与圆柱凸台之间形成定位轴肩,所述圆球测量头设有一切平面，该切平面中心设有一圆柱盲孔，该圆柱盲孔的直径与圆柱凸台的直径吻合，所述圆球测量头通过圆柱盲孔套在圆柱凸台上且粘接固定，当因为圆球测量头磨损导致测试精度达不到要求的时候，不需要将整个测量针替换掉，只需要换上全新的圆球测量头，便可以继续进行测量工作，不但方便快捷，便于安装， 还大大节省了检测成本，甚至可以针对不同直径的细微孔，换上不同型号的圆球测量头来进行检测。

所述圆球测量头的球半径小于球面凹槽的球半径，且大于细微孔的半径，保证所述圆球测量头既能够抵达球面凹槽底部，又不至于会穿到细微孔内部去。

所述圆球测量头套在圆柱凸台上，圆柱凸台与圆球测量头的配合间隙为0.01~0.02mm，保证圆柱凸台与圆球测量头能够紧密粘接固定在一起。

所述圆球测量头的精度等级至少为G10级，保证测量针具有足够的测试精度。