[实用新型]一种陶瓷球研球机及球径、球表面质量测量装置有效

专利信息
申请号: 201920182014.8 申请日: 2019-02-01
公开(公告)号: CN209681894U 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 单铁城;王鸿飞;秦薇;王猛;孙巧玉;王一鸣;朱正旺;张宏伟 申请(专利权)人: 沈阳非晶金属材料制造有限公司
主分类号: B24B37/02 分类号: B24B37/02;B24B11/06;B24B37/005;B24B49/04;B24B55/06
代理公司: 21001 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 代理人: 张晨<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 110016 辽宁省沈阳*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
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【说明书】:

实用新型的目的在于提供一种陶瓷球研球机及球径、球表面质量测量装置,所述测量装置由传感器、微型计算机、传动系统控制器组成,所述传感器分为上盘高敏球面传感器和下盘高敏球面传感器,用于测量球径尺寸和球表面质量,多个下盘高敏球面传感器垂直设置于研球机下研磨盘滚道内,相同数量的上盘高敏球面传感器设置于研球机上研磨盘对应位置上,每条滚到内设置一个传感器,准确检测每个滚道内球体直径以及表面质量;上盘高敏球面传感器、下盘高敏球面传感器均与微型计算机相连,将收集到的数据传送到微型计算机中;微型计算机与传动系统控制器相连接,传动系统控制器用于控制下研磨盘的旋转速度以及上研磨盘对球体的研磨压力。

技术领域

本实用新型属于轴承钢球以及高硬高脆陶瓷球加工检测领域,特别提供一种研球机及高敏球径、球表面质量检测装置。

背景技术

轴承钢球以及高硬高脆陶瓷球在加工后表面比较粗糙,同时表面光泽度较差,影响产品质量性能。现有的立式磨球机多采用上下盘结构,下盘 (砂盘)为旋转工作盘,带有多条同心的滚道,上盘(固定板)为调整距离压力盘,工作过程中上盘与下盘相互靠近达到研磨的效果,通过不断测量球体的尺寸来调整上盘下行的距离来增加压力,同时配合砂料增大摩擦力,达到快速研磨的效果。实际工作中,工作人员测量球体的尺寸会存在测量不及时的问题,影响研磨精度造成废品,同时不间断的测量也增大了工作者的劳动强度;目前现有的自动检测装置无法克服砂料带来的测量误差,造成数据反馈偏差较大,无法达到高敏测量球径;同时现有设备无法及时准确反馈球体表面质量,对球体缺肉、凹坑等缺陷无法监控。

实用新型内容

为了解决现有技术中的缺陷,本实用新型的目的在于提供一种陶瓷球研球机及高敏测量球径、球表面质量的检测装置。

本实用新型技术方案如下:

一种陶瓷球研球机用球径、球表面质量测量装置,其特征在于:所述测量装置由传感器、计算机3、传动系统控制器4组成,其中:

所述传感器分为上盘高敏球面传感器1和下盘高敏球面传感器2,用于测量球径尺寸和球表面质量(如球体是否出现缺肉现象等),多个下盘高敏球面传感器2垂直设置于研球机下研磨盘6滚道内,相同数量的上盘高敏球面传感器1设置于研球机上研磨盘5对应位置上,每条滚道内设置一个传感器,准确检测每个滚道内球体直径以及表面质量;上盘高敏球面传感器1、下盘高敏球面传感器2均与计算机3相连,可将收集到的数据传送到计算机3中;计算机3与传动系统控制器4相连接,传动系统控制器4用于控制下研磨盘6的旋转速度以及上研磨盘5对球体的研磨压力。

其中,上盘高敏球面传感器1和下盘高敏球面传感器2安装于径向尺寸相同的位置,在下研磨盘工作过程中上盘高敏球面传感器1能够不间断的与下盘高敏球面传感器2相遇从而探测球径尺寸,反馈到计算机3中进行计算。

本实用新型所述陶瓷球研球机用球径、球表面质量测量装置,其特征在于:上研磨盘5滚道和下研磨盘6滚道内设有装配孔,用于安装传感器;装配孔一端内壁设有环形凸起14,环形凸起14的内径大于传感器头部,并小于传感器主体部分,用于挡住传感器,装配孔内设有弹簧15,弹簧15套装在传感器外,用于将传感器固定在环形凸起14处,避免影响传感器的灵敏度,同时避免传感器与高强、高脆球体的硬性接触。

本实用新型所述陶瓷球研球机用球径、球表面质量测量装置,其特征在于:在环形凸起14和传感器之间设有密封胶圈16,通过密封胶圈16进行密封,防止砂料进入装配孔。

本实用新型所述陶瓷球研球机用球径、球表面质量测量装置,其特征在于:在上研磨盘5上与上盘高敏球面传感器1相同径向尺寸处设有喷淋导管17,喷淋导管17用于冲刷砂料,避免传感器测量尺寸时局部砂料对球径测量的影响,因此喷淋导管17优选设置在上盘高敏球面传感器1的前端。

本实用新型还提供了一种自动检测球体尺寸及表面质量的研球机,其特征在于:

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