[实用新型]样品透光率测试设备

说明书

本申请涉及一种样品透光率测试设备，包括激光发射器、衰减组件、激光探测器和信息输出装置，衰减组件和激光探测器沿激光发射器发射激光的传播方向依次设置，且激光探测器连接信息输出装置；衰减组件与激光探测器之间用于放置被测样品，激光探测器用于测量未放置被测样品时接收的激光对应的第一电信号、以及测量放置被测样品时接收的激光对应的第二电信号并发送至信息输出装置，信息输出装置输出第一电信号和第二电信号对应的透光率。采用本申请，可方便用户对样品进行透光率测试，准确测量样品的透光性能，为激光焊接分析提供参考。

技术领域

本申请涉及性能测试技术领域，特别是涉及一种样品透光率测试设备。

背景技术

对于塑料制品等产品的焊接制造生产，由于激光焊接具有牢固密封、易于控制等特点，制造厂商大多是采用的激光焊接。

然而，激光焊接的质量受产品的透光性能影响，若产品的透光性差，则激光难以使焊接部位紧密结合，焊接效果差。因此，对产品的透光性能的测试，对于确保焊接效果至关重要。

实用新型内容

基于此，有必要针对不确定被焊接样品的透光性能的问题，提供一种可以准确测量透光性能的样品透光率测试设备。

一种样品透光率测试设备，包括激光发射器、衰减组件、激光探测器和信息输出装置，所述衰减组件和所述激光探测器沿所述激光发射器发射激光的传播方向依次设置，且所述激光探测器连接所述信息输出装置；

所述衰减组件与所述激光探测器之间用于放置被测样品，所述激光探测器用于测量未放置所述被测样品时接收的激光对应的第一电信号、以及测量放置所述被测样品时接收的激光对应的第二电信号并发送至所述信息输出装置，所述信息输出装置输出所述第一电信号和所述第二电信号对应的透光率。

上述样品透光率测试设备，通过采用激光发射器、衰减组件、激光探测器和信息输出装置，激光发射器发射的激光经过衰减组件、可被激光探测器探测得到对应的电信号。实际使用时，采用激光探测器分别探测在衰减组件与激光探测器之间未放置被测样品时的第一电信号以及放置有被测样品时的第二电信号，由信息输出装置输出第一电信号和第二电信号对应的透光率。如此，可方便用户对样品进行透光率测试，准确测量样品的透光性能，为激光焊接分析提供参考。

附图说明

图1为一个实施例中样品透光率测试设备的结构框图；

图2为一个实施例中样品透光率测试设备的工作原理示意图；

图3为一个实施例中样品透光率测试设备的一侧立体结构示意图；

图4为一个实施例中样品透光率测试设备的侧视图；

图5为一个实施例中样品透光率测试设备的主视图；

图6为一个实施例中激光光路传输分析图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

参考图1，在一个实施例中，提供了一种样品透光率测试设备，包括激光发射器110、衰减组件130、激光探测器150和信息输出装置170，衰减组件130和激光探测器150沿激光发射器110发射激光的传播方向依次设置，且激光探测器150连接信息输出装置170。其中，激光发射器110用于发射激光，衰减组件130用于降低激光的能量，使穿过衰减组件130的激光的能量衰减，可以使得射入激光探测器150的激光的能量在激光探测器150的可接受范围内。