[实用新型]利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置

权利要求书

1.一种利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，包括电源模块、信号处理模块、显示模块和探头，其中，所述探头设有探头接口端(1)、接口卡槽(2)、密封护套(3)、磁性组件(4)、芯片组件(5)和探头底座(6)，所述磁性组件(4)和芯片组件(5)设置在所述密封护套(3)内，所述探头底座(6)通过螺纹与所述密封护套(3)连接；该装置还包括与所述探头组合使用的磁性元件(8)，测量目标(7)置于所述磁性元件(8)与所述探头底座(6)之间；所述信号处理模块通过信号线与所述探头连接。

2.根据权利要求1所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述探头内设有磁铁和线性霍尔芯片，所述磁铁安装在所述密封护套(3)内的磁铁槽中形成磁性组件(4)；所述线性霍尔芯片安装在所述密封护套(3)内的芯片槽中形成芯片组件(5)，所述芯片组件(5)靠近所述探头底座(6)，所述磁性组件(4)位于所述芯片组件(5)上方1mm至2mm处。

3.根据权利要求1或2所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述电源模块包括双电路通道，所述双电路通道分别与所述磁性组件(4)和芯片组件(5)连接，各电路通道可独立开关、电流大小可调。

4.根据权利要求2所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述磁铁是电磁铁或永久磁铁，若测量目标较厚造成显示数据较弱时，可增大电磁铁的励磁电流或者增加永久磁铁的数量来加强磁性。

5.根据权利要求2所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述线性霍尔芯片可根据高精度测量、大量程测量、高稳定测量的实际需求采用不同的型号。

6.根据权利要求1所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述磁性元件(8)为球形、圆盘形、线形中的任意一种结构。

7.根据权利要求1所述的利用霍尔效应测量非电磁材料厚度的装置，其特征在于，所述测量目标(7)是非电磁材料或磁性材料上的非金属镀层。