[实用新型]用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架有效
| 申请号： | 201920201626.7 | 申请日： | 2019-02-15 |
| 公开（公告）号： | CN209525290U | 公开（公告）日： | 2019-10-22 |
| 发明（设计）人： | 李根;王忠诚;李世博;马先锋;严宝玉 | 申请（专利权）人： | 上海海事大学 |
| 主分类号： | G01N25/20 | 分类号： | G01N25/20;B25B11/00 |
| 代理公司： | 上海元好知识产权代理有限公司 31323 | 代理人： | 包姝晴;张妍 |
| 地址： | 201306 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 膏状材料 下金属片 样品支架 测量 本实用新型 上金属片 稳态法 导热系数 导热性能 金属丝 绝热环 中心孔 测量装置 传统测量 计算过程 接触热阻 施加压力 直径一致 准确测量 测量臂 涂覆 制备 保证 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，该样品支架包含：上金属片、下金属片、金属丝以及绝热环；所述的绝热环具有中心孔，该中心孔的孔径与上金属片、下金属片的直径一致，待测膏状材料分别涂覆在上金属片、下金属片上形成待测膏状材料涂层，所述金属丝位于下金属片上的待测膏状材料涂层中。
2.如权利要求1所述的用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，所述的上金属片与下金属片的形状、大小完全一致。
3.如权利要求1所述的用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，上金属片与下金属片涂覆待测膏状材料的一面相向设置，位于绝热环的中心孔中。
4.如权利要求1所述的用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，所述的样品支架包含3段直径相同的金属丝，该3段金属丝沿下金属片周向均匀分布。
5.如权利要求4所述的用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，所述的金属丝完全浸没于下金属片的待测膏状材料涂层中。
6.如权利要求1所述的用于稳态法测量膏状材料导热性能的样品支架，其特征在于，所述的金属丝的直径为0.3mm-0.8mm。
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