[实用新型]一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置

说明书

本实用新型公开了一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置，包括：一激发光源装置，一用于探测信号的信号探测装置，一放置于所述激发光源装置和所述信号探测装置下方的待测样品放置装置，其中，所述激发光源装置的X射线管为端窗型微聚焦X射线管，安装方式为采用斜向44‑46°向下照射方式；所述信号探测装置的信号探测器为垂直向下的安装方式，且所述信号探测器的铍窗表面离待测样品表面为2.9‑3.1mm。本实用新型采用上照方式，几何角度设计，待测样品上表面直接受照射激发方式，不加薄膜，只要在空气条件下，即可测量钠、镁、铝、硅等轻元素，并获得轻元素的高灵敏度和高检出限，特别适合于液体样品中轻元素的分析测试。

技术领域

本实用新型涉及一种X荧光分析测量装置，具体涉及一种能够在空气环境下测量轻元素含量的几何检测装置。

背景技术

目前，一般传统的X荧光分析仪要测量钠、镁、铝、硅等轻元素，需要抽真空，把X射线管、探测器与待测样品之间的空气抽干净，以消除空气分子对这些轻元素荧光射线能量的吸收，获得对轻元素较高的测量精度，在空气条件下测量轻元素时由于空气对轻元素的低能射线的吸收，特别是液体样品测量时无法进行抽真空，因此轻元素测量难以获得较高的精度。一般传统的X荧光分析仪对X射线管、探测器、待测样品之间的几何设计时采用X射线管到待测样品与探测器到待测样品之间为90°的设计，图3为这种传统设计方式示意图。这种设计方式样品的表面与探测器表面的中心距离至少在10mm以上，在空气环境中，对钠的射线衰减达90％以上，对镁的射线衰减达80％以上，对铝的射线衰减达70％以上，对硅的射线衰减达60％以上，因此无法在空气条件下获得足够的分析精度，必须在真空环境测量才行。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的主要目的在于提供一种能够在空气环境下测量轻元素含量的几何检测装置。

为了实现本实用新型的目的，所采用的技术方案如下：

一种X荧光在空气条件下测量轻元素的几何检测装置,包括：

一激发光源装置，

一用于探测信号的信号探测装置，

一放置于所述激发光源装置和所述信号探测装置下方的待测样品放置装置，

其中，所述激发光源装置的X射线管为端窗型微聚焦X射线管，安装方式为采用斜向44-46°向下照射方式；

所述信号探测装置的信号探测器为垂直向下的安装方式，且所述信号探测器的铍窗表面离待测样品表面为2.9-3.1mm。

在本实用新型的一个优选实施例中，待测样品被放置在所述待测样品放置装置内，用于测量所述待测样品中的轻元素，其中，所述轻元素包括Na、 Mg、Al、Si、P、S中的任意一种或多种。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述激发光源装置的X射线管为端窗型微聚焦X射线管，安装方式为采用斜向45°向下照射方式。

在本实用新型的一个优选实施例中，所述信号探测器垂直向下安装方式，探测器的铍窗表面离待测样品表面为3mm。

本实用新型的有益效果在于：

本实用新型的测量装置，采用上照方式，最佳几何角度设计，待测样品上表面直接受照射激发方式，不加任何薄膜，无需抽真空，只要在空气条件下，即可测量钠、镁、铝、硅等轻元素，并获得这些轻元素的高灵敏度和高检出限，特别适合于液体样品中轻元素的分析测试。

附图说明

图1为本实用新型测量装置的示意图。

图2为本实用新型测量装置的局部放大示意图。

图3为传统设计方式示意图。

具体实施方式