[实用新型]一种带限位结构的芯片测试装置有效
| 申请号： | 201920222282.8 | 申请日： | 2019-02-22 |
| 公开（公告）号： | CN209606573U | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 彭朝亮 | 申请（专利权）人： | 华芯智造微电子（重庆）股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 401420 重庆市*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 芯片测试 测试板 探针 底板 芯片测试装置 本实用新型 上端侧壁 限位结构 芯片 可调节 测试 控制芯片 升降机构 下端侧壁 限位机构 测试点 放置槽 支撑板 | ||
1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括设置在顶板（2）的下端的芯片测试探针（1），其特征在于，所述芯片测试探针（1）的上端侧壁与顶板（2）的下端侧壁固定连接，所述顶板（2）的下方设有底板（3），所述顶板（2）与底板（3）之间通过支撑板（4）固定连接，所述芯片测试探针（1）的下方设有测试板（5），所述测试板（5）的上端侧壁上设有放置槽（6），所述底板（3）上设有升降机构，所述测试板（5）上设有限位机构。
2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述升降机构包括设置在底板（3）的上端侧壁上的装置槽（7），所述装置槽（7）的内壁上固定连接有电动推杆（8），所述电动推杆（8）的输出端与测试板（5）的下端侧壁固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述测试板（5）靠近支撑板（4）一端的侧壁上固定连接有T形滑块（9），所述支撑板（4）的侧壁上设有与T形滑块（9）位置相对应的T形滑槽（10），所述T形滑块（9）与T形滑槽（10）的内壁滑动连接，所述测试板（5）的侧壁与支撑板（4）的侧壁滑动连接。
4.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位机构包括设置在测试板（5）的两侧侧壁上的螺纹杆（11），两个所述螺纹杆（11）均贯穿测试板（5）的侧壁并与其螺纹连接，所两个所述螺纹杆（11）位于放置槽（6）内的一端均转动连接有限位板（12）。
5.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，所述限位板（12）的侧壁与放置槽（6）的内壁滑动连接且相抵，所述限位板（12）远离螺纹杆（11）的一端固定连接有橡胶垫片（13）。
6.根据权利要求4所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于，两个所述螺纹杆（11）远离放置槽（6）的一端均固定连接有旋钮（14）。
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