[实用新型]一种热膨胀系数测量仪

权利要求书

1.一种热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述热膨胀系数测量仪包括：底板、第一被测材料、第二被测材料、第一位移测量装置、第二位移测量装置；其中，

所述底板上方安装有第一立柱、第二立柱、第三立柱以及第四立柱；所述第一立柱上方安装有第一被测材料，所述第二立柱上方安装有第二被测材料，所述第一被测材料和所述第二被测材料是同种材料；所述第三立柱上方安装有第一位移测量装置，所述第四立柱上方安装有第二位移测量装置；所述第一被测材料和所述第二被测材料具有不同的长度和相同的材料，且在所述第一立柱和所述第二立柱上的安装方式相同；所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置属于相同的位移测量装置，且在所述第三立柱和所述第四立柱上的固定位置以及安装方式均相同；

所述第一位移测量装置的轴线和所述第一被测材料的轴线重合或平行，所述第二位移测量装置的轴线和所述第二被测材料的轴线重合或平行，所述第一位移测量装置用于测量所述第一被测材料发生膨胀后的长度改变量，所述第二位移测量装置用于测量所述第二被测材料发生膨胀后的长度改变量；温度改变后，基于第一位移测量装置和第二位移测量装置测量结果的差值以及第一被测材料和第二被测材料长度的差值，确定所述第一被测材料和所述第二被测材料的热膨胀系数。

2.根据权利要求1所述的热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置均包括：位移传感器、传输线和解调装置；其中，

所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置均为接触式位移测量装置，所述第一位移测量装置的位移传感器与所述第一被测材料的端部接触，所述第二位移测量装置的位移传感器与所述第二被测材料的端部接触；或者，

所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置均为非接触式位移测量装置，所述第一位移测量装置的位移传感器与所述第一被测材料的端部不接触，所述第二位移测量装置的位移传感器与所述第二被测材料的端部不接触。

3.根据权利要求1所述的热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述底板上方没有隔热材料，

所述第一被测材料和所述第二被测材料从固定点到端部的长度分别是L₁和L₂；所述第一被测材料和所述第二被测材料是同种材料。

4.根据权利要求1所述的热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述底板上方有隔热材料，所述隔热材料将所述底板和上方的所述第一被测材料、所述第二被测材料、所述第一位移测量装置以及所述第二位移测量装置隔离开，使得当温度改变时，只有所述隔热材料上方的区域温度发生变化，所述底板不发生热膨胀。

5.根据权利要求3或4所述的热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置中的光纤端部分别作为第一反射面，所述第一被测材料和所述第二被测材料的端部固定有反射镜，作为第二反射面；温度改变后，所述第一被测材料和所述第二被测材料发生热膨胀，所述第一被测材料和所述第二被测材料的端部发生不同的位移，带动反射镜移动，所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置的光纤端部也发生移动，所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置的两个光纤端部的移动量Δd₀相同。

6.根据权利要求3或4所述的热膨胀系数测量仪，其特征在于，所述第一被测材料和所述第二被测材料的端部固定有导体反射面，所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置均包括外壳、内杆、第一反射点、第二反射点和频谱解调装置；所述第二反射点为外壳和内杆的端部平面，所述外壳和内杆是连续导体；所述频谱解调装置对频谱进行解调，测出所述第二反射点与所述导体反射面之间的距离，所述第二反射点与所述导体反射面之间的距离为绝缘介质腔的腔长；温度改变后，所述第一被测材料和所述第二被测材料的端部发生不同的位移，导致所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置测出的所述第二反射点与所述导体反射面之间的距离发生变化；所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置的固定方式和位置均相同，从而所述第一位移测量装置和所述第二位移测量装置端部的第二反射点移动量Δd₀相同。