[实用新型]热阻测试装置

说明书

本实用新型公开了一种热阻测试装置，包括热阻测试模块，所述热阻测试模块由模拟电路构成，所述热阻测试模块上设有多个程序控制接口，所述热阻测试模块通过相应的程序控制接口与待测电子器件连接。实施本实用新型的热阻测试装置，具有以下有益效果：能很好地解决半导体生产商原有机械手工位不足问题、避免重新投入大量资金来升级机械手、也便半导体生产商对测试程序的管理、加快测试速度提高产能。

技术领域

本实用新型涉及电子器件测试领域，特别涉及一种热阻测试装置。

背景技术

随着科学与技术的发展与进步，对电子器件的稳定性要求越来越高。很多器件以前在生产测量中并没有需求测试器件热阻参数的，现在基本上都需要进行测试。由于很多半导体生产商之前投资购买的机械手(或测试工装夹具)没有多余的工位增加热阻测试，他们急需一种能和DC测试机一起同工位进行测试量的热阻测试机。

现有产品有如下两种情况：1、独立机型：这类机器热阻测试功率稍大，热阻测试功能为独立的一台机器，必须占据一个工位同时测试数据为独立一份数据没有和DC合并在一起。2、DC测试机内置热阻测试功能：这种热阻测试功率比较弱，而且容易受DC测试功能电路的影响，导致测试热阻不稳定及偏差。

可见，传统技术中的一种测试方式是热阻测试功能为独立的一台机器，需独占一个测量工位。半导体生产商需要投入大量资金升级机械手。同时独立机器的测试数据难与DC的数据进行合并，需要增加人力物力进行测试程序管控。另外一种测试方式是将热阻测试功能集成在DC测试机内部，虽然没有了独立机的缺点，但输出功率比较少，最高输出的电压也不够高，只适合应用于小功率、低电压的产品测试。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种能很好地解决半导体生产商原有机械手工位不足问题、避免重新投入大量资金来升级机械手、也便半导体生产商对测试程序的管理、加快测试速度提高产能的热阻测试装置。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种热阻测试装置，包括热阻测试模块，所述热阻测试模块由模拟电路构成，所述热阻测试模块上设有多个程序控制接口，所述热阻测试模块通过相应的程序控制接口与待测电子器件连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括控制盒，所述热阻测试模块通过相应的所述程序控制接口与所述控制盒连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括供电电源，所述供电电源分别与所述热阻测试模块和控制盒连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括上位机，所述上位机与所述控制盒连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，所述控制盒为QT-4100控制盒。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括DC测试机，所述热阻测试模块通过相应的所述程序控制接口与所述DC测试机连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括供电电源，所述供电电源分别与所述热阻测试模块和DC测试机连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括测试头，所述热阻测试模块通过相应的所述程序控制接口与所述测试头连接，所述测试头还与所述DC测试机连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，还包括上位机，所述上位机与所述DC测试机连接。

在本实用新型所述的热阻测试装置中，所述DC测试机为QT-4100测试机。