[实用新型]一种斜背式测试分选机用顶针

说明书

本实用新型涉及半导体元件加工设备技术领域，具体涉及一种斜背式测试分选机用顶针，包括斜背式测试分选机的顶针，还包括连接柄、弹性夹头、法兰盘、挡盖。本实用新型的有益效果：设置法兰盘，将法兰盘安装在外部的斜背式测试分选机上，通过挡盖在法兰盘上的螺纹旋合，驱动挡盖上环形凸块抵紧弹性夹头上锥段外壁，并驱动锥段在滑动槽内朝远离挡盖侧滑动，并驱动锥段内壁弹性收缩将连接柄夹紧，进而使顶针快速安装在测试分选机上，提高了操作效率，设置缓冲装置，使得测试分选机在对半导体元件进行顶压时，通过缓冲垫块驱动弹簧收缩，使的能够对半导体元件顶压过程进行缓冲，防止将半导体元件表面压伤。

技术领域

本实用新型涉及半导体元件加工设备技术领域，具体涉及一种斜背式测试分选机用顶针。

背景技术

现有的半导体斜背式测试分选机用顶针在安装时，需要通过螺钉将顶针固定在分选机上，这样使得顶针在安装、更换、拆卸时极为不方便，影响了生产效率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术中存在的问题，提供一种斜背式测试分选机用顶针，它可以实现提高顶针安装时的操作效率。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种斜背式测试分选机用顶针，包括斜背式测试分选机的顶针，还包括：

连接柄，所述连接柄同轴设于顶针上；

弹性夹头，所述弹性夹头由轴段、锥段组成，其上同轴开有供所述连接柄插合的插孔，所述锥段外壁上沿其轴向阵列开有多个缺口形式的条形槽；

法兰盘，所述法兰盘上同轴开有供轴段插合的盲孔以及供锥段外壁卡合且自由滑动的滑动槽；

挡盖，所述挡盖螺纹连接在法兰盘竖直段外壁上，其上设有供所述连接柄自由通过的通孔，其内设有向其轴向延伸的环形凸块，所述环形凸块表面与锥段外壁相抵，且所述挡盖在法兰盘上螺纹旋合时，驱动所述环形凸块抵紧锥段，使所述锥段在滑动槽内朝远离挡盖侧滑动，并驱动所述锥段内壁弹性收缩将连接柄夹紧。

进一步地，所述挡盖上设有至少一个加力杆。

优选地，所述弹性夹头由65Mn材质制成。

进一步地，还包括缓冲装置，所述缓冲装置包括：

滑块，所述滑块设于顶针上，所述顶针上开有供滑块卡合并能沿顶针轴向自由滑动的限位槽；

封盖，所述封盖设于顶针上且用于将限位槽的槽口封闭；

连接柱，所述连接柱同轴设于滑块上，其穿出所述封盖并能自由滑动；

缓冲垫块，所述缓冲垫块设于连接柱穿出封盖一端上；

弹簧，所述弹簧设于限位槽内，其两端分别固接在所述滑块、限位槽内壁上。

优选地，所述滑块与连接柱为一体式结构。

本实用新型的有益效果：设置法兰盘，将法兰盘安装在外部的斜背式测试分选机上，通过挡盖在法兰盘上的螺纹旋合，驱动挡盖上环形凸块抵紧弹性夹头上锥段外壁，并驱动锥段在滑动槽内朝远离挡盖侧滑动，并驱动锥段内壁弹性收缩将连接柄夹紧，进而使顶针快速安装在测试分选机上，提高了操作效率，设置缓冲装置，使得测试分选机在对半导体元件进行顶压时，通过缓冲垫块驱动弹簧收缩，使的能够对半导体元件顶压过程进行缓冲，防止将半导体元件表面压伤。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。