[实用新型]一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置

说明书

本实用新型公开了一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置，包括测试电路板和测试夹具；测试电路板上设置有测试夹具，测试夹具通过测试电路板与外置的晶体振荡器温度特性测试系统连接，待测试的温度补偿晶体振荡器与测试夹具连接；测试电路板包括测试电路，测试电路包括第一电容、第二电容、第一探针、示波器和频率计；第一电容连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端通过第一探针依次连接示波器和频率计，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端和第一探针之间连接有第二电容。该测试单元实现了对温度补偿晶体振荡器的检测，加强了对晶体振荡器固有可靠性和使用可靠性的控制。

技术领域

本实用新型涉及元器件测试技术领域，特别是指一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置。

背景技术

温度补偿晶体振荡器(TCXO)，是通过附加的温度补偿电路使由周围温度变化产生的振荡频率变化量削减的一种石英晶体振荡器，由于其良好的开机特性、优越的性能价格比及功耗低、体积小、环境适应性较强等多方面优点，在雷达、导弹、卫星、运载火箭等装备上得到广泛应用，是整机的“心脏”元器件，对整机能否实现总体性能指标有着至关重要的作用。

目前，在元器件可靠性筛选试验时，由于缺少相关的测试技术及硬件资源，部分封装形式的温度补偿晶体振荡器还处在不能检测状态，导致质量无法保障，将严重影响型号应用的可靠性。目前，亟需根据器件工作原理和测试原理，结合器件封装形式，研究相关元器件的外围测试电路设计及测试装置设计，实现充分测试验证，保障其应用可靠性。

实用新型内容

针对现有技术的不足之处，本实用新型的目的是提出一种温度补偿晶体振荡器的测试单元和测试装置，实现了对温度补偿晶体振荡器的检测，加强了对晶体振荡器固有可靠性和使用可靠性的控制。

基于上述目的，本实用新型提供的一种温度补偿晶体振荡器的测试单元，包括测试电路板和测试夹具；所述测试电路板上设置有所述测试夹具，所述测试夹具通过测试电路板与外置的晶体振荡器温度特性测试系统连接，待测试的温度补偿晶体振荡器通过器件管脚与测试夹具连接；

其中，所述测试电路板包括测试电路，测试电路包括第一电容、第二电容、第一探针、示波器和频率计；所述第一电容连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端通过第一探针依次连接所述示波器和频率计，待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端和所述第一探针之间连接有第二电容。

在本实用新型的一些实施例中，所述第一电容的一端连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，所述第一电容的另一端接地；

所述第一探针的输入端连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端，所述第一探针的第一输出端连接至所述示波器的输入端，所述第一探针的第二输出端接地，所述示波器的输出端连接至所述频率计的输入端；

所述第二电容的一端连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的第一输出端和所述第一探针之间，所述第二电容的另一端接地。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试单元还包括电压表和电流表，所述电压表的一端接地，所述电压表的另一端连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，用于测定待测试的温度补偿晶体振荡器两端的电压；所述电流表连接至待测试的温度补偿晶体振荡器的电源输入端，用于测定流入待测试的温度补偿晶体振荡器中的电流。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试夹具包括底座，所述底座上设置有用于放置待测试的温度补偿晶体振荡器的测试槽。

在本实用新型的一些实施例中，所述测试槽内设置有4个第二探针，分别连接待测试的温度补偿晶体振荡器的OUT管脚、GND管脚、Vcc管脚和Vco管脚。