[实用新型]放射线检测器以及放射线图像摄影装置有效
申请号: | 201920344792.2 | 申请日: | 2019-03-18 |
公开(公告)号: | CN210005700U | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 岩切直人;加藤宗贵;中津川晴康;赤松圭一 | 申请(专利权)人: | 富士胶片株式会社 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202;G01T1/208;A61B6/00 |
代理公司: | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 柯瑞京 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基板 挠曲 像素 放射线检测器 挠曲抑制 闪烁体 放射线图像摄影装置 光电转换元件 极限变形量 可挠性 抑制基 | ||
提供一种放射线检测器以及放射线图像摄影装置,放射线检测器包括:具有可挠性的基板;设置在基板上且分别包含光电转换元件的多个像素;层叠在基板上的闪烁体;以及抑制基板的挠曲的挠曲抑制构件。在将像素的尺寸设为X、将因基板的挠曲引起的像素的极限变形量设为ZL、将因闪烁体的重量而在基板上产生的挠曲的曲率半径设为R时,挠曲抑制构件具有满足R≥X2/2ZL的刚性。
技术领域
公开技术涉及放射线检测器以及放射线图像摄影装置。
背景技术
作为与放射线图像摄影装置相关的技术,例如已知有以下的技术。在日本特开2012-173275号公报(专利文献1)中记载有如下的放射线图像检测装置,具备:放射线图像检测装置主体,其具有将放射线转换成荧光的闪烁体及设置在闪烁体的放射线入射侧的光检测部;以及支承构件,其配置在放射线图像检测装置主体的放射线入射侧且对被摄物进行支承。光检测部具有:将荧光作为电信号来检测的薄膜部;以及设置在薄膜部的与闪烁体侧相反的一侧且与支承构件接合的加强构件。
在日本特表2017-532540号公报(专利文献2)中,记载有包含通过相互连接而接合的第一模块方式检测器及第二模块方式检测器在内的检测部。第一模块方式检测器及第二模块方式检测器具有可挠性。在第一模块方式检测器及第二模块方式检测器的受光面的相反侧装配有加强材料,加强材料构成为防止接近于加强材料的装配位置的模块方式检测器的弯曲。
实用新型内容
实用新型要解决的课题
作为放射线图像摄影装置所使用的放射线检测器,已知有如下的放射线检测器,该放射线检测器包含:基板;设置于基板且分别包含光电转换元件的多个像素;以及层叠在基板上的闪烁体。近年来,作为构成放射线检测器的基板的材料,使用了树脂薄膜等具有可挠性的材料。在基板具有可挠性的情况下,例如在放射线检测器的制造工序中,在对基板进行处理时,由于层叠在基板上的闪烁体的重量而可能使基板产生比较大的局部挠曲。构成像素的光电转换元件由相对于非晶硅等的弯曲应力而脆弱的材料构成,因此,当基板产生较大的挠曲时,像素可能会损伤。
作为公开技术的一个方面,其目的在于,与不使用根据像素的尺寸而决定了刚性的挠曲抑制构件的情况相比,降低因闪烁体的重量产生的基板的挠曲所引起的像素的损伤的风险。
用于解决课题的手段
公开技术的第一方式的放射线检测器包括:基板,其具有可挠性;多个像素,其设置于基板,且分别包含光电转换元件;闪烁体,其层叠在基板上;以及挠曲抑制构件,其抑制基板的挠曲,在将像素的尺寸设为X、将因基板的挠曲引起的像素的极限变形量设为ZL、将因闪烁体的重量而在基板上产生的挠曲的曲率半径设为R时,挠曲抑制构件具有满足下式的刚性:R≥X2/2ZL。
在公开技术的第二方式的放射线检测器中,闪烁体层叠在基板的第一面侧,挠曲抑制构件层叠在基板的与第一面侧相反的一侧的第二面侧以及闪烁体的与基板相接的面侧的相反侧的面侧中的至少一方。
在公开技术的第三方式的放射线检测器中,挠曲抑制构件层叠在基板的第二面侧、以及闪烁体的与基板相接的面侧的相反侧的面侧的双方。
在公开技术的第四方式的放射线检测器中,挠曲抑制构件具有比基板高的刚性。
在公开技术的第五方式的放射线检测器中,挠曲抑制构件在比闪烁体延伸的范围更大的范围内延伸。
在公开技术的第六方式的放射线检测器中,基板具有与可挠性的布线连接的连接区域,挠曲抑制构件设置在覆盖所述连接区域的至少一部分及所述闪烁体的区域。
在公开技术的第七方式的放射线检测器中,挠曲抑制构件的弯曲弹性模量为1000MPa以上且3500MPa以下。
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