[实用新型]Sub-6G频段近场测量探头校准系统有效
申请号: | 201920346953.1 | 申请日: | 2019-03-19 |
公开(公告)号: | CN209488583U | 公开(公告)日: | 2019-10-11 |
发明(设计)人: | 齐殿元;赵竞;余纵瀛;代灿林;许士君;马文化 | 申请(专利权)人: | 中国信息通信研究院 |
主分类号: | H04B5/00 | 分类号: | H04B5/00;H04B3/54;H04B17/11 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 王天尧;任默闻 |
地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号源装置 近场测量 平板天线 探头 波导 空气波导 频段 暗室 电磁波信号 校准系统 控制器 校准 平坦 控制器控制信号 本实用新型 控制器连接 产生信号 实际功率 同轴电缆 校准因子 源装置 紧贴 记录 | ||
1.一种Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,包括:
控制器、信号源装置、TEM暗室、空气波导、平坦模型、定向平板天线以及液体波导,所述定向平板天线紧贴放置于所述平坦模型的下方;所述液体波导至少包括R40LS和R58LS;
所述控制器连接所述信号源装置,所述信号源装置分别连接所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导的射频接口;
所述控制器用以控制所述信号源装置产生电磁波信号,所述信号源装置将所述电磁波信号通过同轴电缆导入所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导内;所述控制器还用于记录并根据所述电磁波信号的实际功率得到待校准的近场测量探头的校准因子;
所述Sub-6G频段近场测量探头校准系统还包括校准验证装置,所述校准验证装置连接所述信号源装置,用于在所述Sub-6G频段近场测量探头校准系统对所述液体波导对应的频点校准完成后,对所述近场测量探头的校准因子进行验证。
2.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述信号源装置包括:
信号发生器、功率放大器、耦合器;
所述信号发生器连接所述控制器与所述功率放大器;
所述耦合器的输入端连接所述功率放大器,输出端顺序连接功率计、所述TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导,前向端连接监控功率计,后向端连接所述校准验证装置。
3.根据权利要求2所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述信号发生器与功率放大器之间、耦合器与所述监控功率计之间和/或耦合器与所述功率计之间还分别连接有衰减器。
4.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述待校准的近场测量探头包括:SAR探头。
5.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述信号源装置容置于一机柜内,所述信号源装置与所述控制器、TEM暗室、空气波导、定向平板天线以及液体波导通过线缆连接。
6.根据权利要求5所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述线缆包括同轴线缆。
7.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,还包括一机械臂,所述机械臂连接所述控制器与待校准的近场测量探头,用于调整所述待校准的近场测量探头在所述TEM暗室、空气波导、平坦模型以及液体波导中的测量位置。
8.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,R40LS液体波导和R58LS液体波导对应的频点包括:
3300MHz、3500MHz、3700MHz、3900MHz、4100MHz、4200MHz、4400MHz、4600MHz、4800MHz及4950MHz。
9.根据权利要求1所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述校准验证装置包括偶极子。
10.根据权利要求9所述的Sub-6G频段近场测量探头校准系统,其特征在于,所述偶极子包括以下一种或多种:
D3300V2、D3500V2、D3700V2、D3900V2、D4200V2、D4600V2、D4900V2。
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