[实用新型]一种集成电路动态存储电容漏电时间曲线测量装置

说明书

本实用新型公开了一种集成电路动态存储电容漏电时间曲线测量装置，包括核心控制模块、电平转换电路、信号缓冲调理电路、模数转换器和电源模块；核心控制模块通过电平转换电路将数据写入动态存储电容，再通过模数转换器读取经过信号缓冲调理电路调理的动态存储电容的输出电压值，最后在显示屏上显示动态存储电容的电压时间曲线。本实用新型解决了集成电路动态存储电容漏电时间曲线的板级测量问题，具有成本低、体积小、适用电压范围宽、可扩展性强、自动化测量、使用便捷等特点，可应用于集成电路（IC）测试的动态存储电容漏电时间曲线测试领域。

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其是一种集成电路动态存储电容漏电时间曲线测量装置。

背景技术

在集成电路产业中，动态存储结构的应用非常广泛，例如动态随机存储器DRAM以其读写速度快、面积小、价格低的优势占有很大的存储器市场，此外在一些显示设备中也使用动态存储结构存储显示数据。与SRAM使用的双稳态电路不同的是，动态存储结构使用存储电容来存储数据，由于CMOS工艺电路中存在各种漏电流，存储电容的电压会随时间衰减，所以动态存储结构需要进行额外的刷新操作来保持存储电容上的存储数据。

然而，动态存储结构CMOS器件的参数不同会导致漏电流不同，而且即使是相同的动态存储电路结构与相同的器件参数，由于集成电路制造工艺、供电电压和工作温度（PVT）的不同，也会造成漏电流的差异，这样就使得动态存储结构所需要的刷新时间不同。因此，对于动态存储结构来说，测量其动态存储电容的漏电时间曲线是非常必要的。然而，由于集成电路中的存储电容的电容量大约是飞法（fF）数量级，远小于电路板级的电容，如果直接使用市面上的示波器来测试动态电容漏电时间曲线，示波器的探头增加了存储电容漏电回路，存储电容的电荷将很快被释放掉，所以传统的电路板级的测试方案无法实现集成电路动态存储电容漏电时间曲线的测量。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足与实际应用需求而提供的一种集成电路动态存储电容漏电时间曲线测量装置，该装置使用信号缓冲调理电路对集成电路动态存储结构的输出信号进行缓存调理，增强了芯片级电容输出信号的驱动能力，解决了集成电路动态存储电容漏电时间曲线的板级测量问题。

此外，该装置核心处理模块的微处理器的输出信号通过电平转换电路控制集成电路动态存储结构的位选BL和字选WL输入端，将数据写入集成电路动态存储结构的存储电容中，模数转换器将经过信号缓冲调理电路缓冲调理的、集成电路动态存储结构的输出模拟信号，转换为数字信号输入到核心处理模块的微处理器，微处理器通过模数转换器不断采样得到动态存储电容的电压值，最后在显示屏上显示集成电路动态存储电容的漏电时间曲线，实现了集成电路动态存储电容漏电时间曲线的自动化测试。该装置的电平转换电路拓宽了集成电路动态存储结构输入控制信号的电压范围，使该装置可适用于多种工作电压的动态存储结构的存储电容漏电时间曲线测量。

该装置具有成本低、体积小、适用电压范围宽、可扩展性强、使用便捷等特点，解决了集成电路动态存储电容漏电时间曲线的板级测量问题，同时使得集成电路动态存储电容漏电时间曲线测试实现自动化，降低集成电路测试的人力成本，提高集成电路测试的效率。

实现本实用新型目的的具体技术方案是：

一种集成电路动态存储电容漏电时间曲线测量装置，该装置包括核心控制模块、电平转换电路、信号缓冲调理电路、模数转换器、显示屏及电源模块；所述核心控制模块分别与电平转换电路、模数转换器、显示屏及电源模块连接；电平转换电路分别与核心控制模块和电源模块连接；信号缓冲调理电路分别与核心控制模块和电源模块连接；模数转换器与核心控制模块、信号缓冲调理电路和电源模块连接；显示屏与核心控制模块和电源模块连接。

所述核心控制模块由微处理器、时钟模块、复位模块及JTAG接口构成；微处理器分别与时钟模块、复位模块及JTAG接口连接。

所述核心控制模块中的微处理器与电平转换电路、模数转换器、显示屏及电源模块连接。