[实用新型]一种电极片脱落检测装置

权利要求书

1.一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：

第一检测单元、微控制单元以及第一滤波电路；

所述第一检测单元包括第一电阻、第一二极管、第一稳压二极管以及第一光耦合器，所述第一电阻的第一端连接所述第一检测单元的输入端，所述第一电阻的第二端连接所述第一二极管的正极，所述第一二极管的负极连接所述第一稳压二极管的负极，所述第一稳压二极管的正极连接所述第一光耦合器的输入端正极，所述第一光耦合器的输入端负极连接所述第一检测单元的输入端，所述第一光耦合器输出端正极连接所述第一检测单元的输出端，所述第一检测单元的输出端连接所述微控制单元的第一输入端，所述第一光耦合器输出端负极接地，所述第一检测单元用于输出第一电平信号，所述微控制单元用于检测所述第一电平信号；

所述第一滤波电路包括第一电容，所述第一电容的正极连接所述微控制单元的第一输入端，所述第一电容的负极接地，所述第一滤波电路用于所述第一电平信号的滤波。

2.根据权利要求1所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括第一信号上拉电路；

所述第一信号上拉电路包括第二电阻和第一电源，所述第二电阻的第一端连接所述微控制单元的第一输入端，所述第二电阻的第二端连接所述第一电源，所述第一信号上拉电路用于输出高电平信号。

3.根据权利要求1或2所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述微控制单元采用NRF51822。

4.根据权利要求3所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述第一稳压二极管采用1SMA5942BT3G或1SMA5932BT3G。

5.根据权利要求4所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：

第二检测单元以及第二滤波电路；

所述第二检测单元包括第三电阻、第二二极管、第二稳压二极管以及第二光耦合器，所述第三电阻的第一端连接所述第二检测单元的输入端，所述第三电阻的第二端连接所述第二二极管的正极，所述第二二极管的负极连接所述第二稳压二极管的负极，所述第二稳压二极管的正极连接所述第二光耦合器的输入端正极，所述第二光耦合器的输入端负极连接所述第二检测单元的输入端，所述第二光耦合器输出端正极连接所述第一检测单元的输出端，所述第一检测单元的输出端连接所述微控制单元的第二输入端，所述第二光耦合器输出端负极接地，所述第二检测单元用于输出第二电平信号，所述微控制单元还用于检测所述第二电平信号；

所述第二滤波电路包括第二电容，所述第二电容的正极连接所述微控制单元的第二输入端，所述第二电容的负极接地，所述第二滤波电路用于所述第二电平信号的滤波。

6.根据权利要求3所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括：

第二检测单元以及第二滤波电路；

所述第二检测单元包括第三电阻、第二二极管、第二稳压二极管以及第二光耦合器，所述第三电阻的第一端连接所述第二检测单元的输入端，所述第三电阻的第二端连接所述第二二极管的正极，所述第二二极管的负极连接所述第二稳压二极管的负极，所述第二稳压二极管的正极连接所述第二光耦合器的输入端正极，所述第二光耦合器的输入端负极连接所述第二检测单元的输入端，所述第二光耦合器输出端正极连接所述第一检测单元的输出端，所述第一检测单元的输出端连接所述微控制单元的第二输入端，所述第二光耦合器输出端负极接地，所述第二检测单元用于输出第二电平信号，所述微控制单元还用于检测所述第二电平信号；

所述第二滤波电路包括第二电容，所述第二电容的正极连接所述微控制单元的第二输入端，所述第二电容的负极接地，所述第二滤波电路用于所述第二电平信号的滤波。

7.根据权利要求5或6所述的一种电极片脱落检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括第二信号上拉电路；

所述第二信号上拉电路包括第四电阻和第二电源，所述第四电阻的第一端连接所述微控制单元的第二输入端，所述第四电阻的第二端连接所述第二电源，所述第二信号上拉电路用于输出高电平信号。