[实用新型]一种键盘按键拉拔检测装置

说明书

本实用新型公开了一种键盘按键拉拔检测装置，其包括可沿键盘长边方向移动的支撑架、固定在所述支撑架上的若干键帽拉拔模组以及压紧键盘的压紧件，所述键帽拉拔模组包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动进行上下运动的弹性压力传感器、设置在所述弹性压力传感器感应端的拉拔块。本实用新型提高了检测效率，为实现了单个键帽拉拔高度的灵活设计提供了硬件基础，减轻了机械手移载的负载。

【技术领域】

本实用新型属于按键检测技术领域，特别是涉及一种键盘按键拉拔检测装置。

【背景技术】

键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的，目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有：1)来料不良，例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良；2)装配不良，例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因，将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后，为了确保后续使用的可靠性，需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。

本公司早在2013年就开始研发键盘的组装检测的自动化设备，关于键帽拉拔测试设备，本公司已申请的专利号为201510726534.7公开了一种键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机，其在移载模组活动端设置有若干与一排键帽一一对应的且具有压力感应功能的拉钩块，通过拉钩块拉住键帽上抬实现对键帽拉拔力的测试，但该机构中的所有拉钩块统一设置在一个Z轴上，在高度移动上只能同时统一的上升或下降。随着本公司的研发，又申请了专利号为201810262493.4的一种键帽结构组装不良测试机，在实际使用过程中，发现该设备的检测结果的准确度有时候不是很稳定，且检测头组件模块的整体结构有点复杂，结构数量较多，不够精简；后来，本公司又研发了一款申请号为201811589659.X的一种检测效率高的全自动键帽拉拔测试装置及测试方法，虽然实现了在Z轴高度移动上独立，实现了单个键帽拉拔高度灵活设计，但压制机构整体设置在机械手移动端，增加了机械手的负载。

因此，本公司实用新型了一种新的键盘按键拉拔检测装置来解决上述问题。

【实用新型内容】

本实用新型的主要目的在于提供一种键盘按键拉拔检测装置，提高了检测效率，为实现了单个键帽拉拔高度的灵活设计提供了硬件基础，减轻了机械手移载的负载。

本实用新型通过如下技术方案实现上述目的：一种键盘按键拉拔检测装置，其包括可沿键盘长边方向移动的支撑架、固定在所述支撑架上的若干键帽拉拔模组以及压紧键盘的压紧件，所述键帽拉拔模组包括第一驱动件、受所述第一驱动件驱动进行上下运动的弹性压力传感器、设置在所述弹性压力传感器感应端的拉拔块。

进一步的，所述支撑架设置在一直线移载机构的活动端，受所述直线移载机构驱动沿键盘长边方向移动。

进一步的，所述键帽拉拔模组还包括第二驱动件、受所述第二驱动件驱动进行水平直线运动的第一连接板，所述第一驱动件固定设置在所述第一连接板上，通过所述第二驱动件实现所述拉拔块在不同行的键帽之间进行转换。

进一步的，所述弹性压力传感器与所述拉拔块形成一个拉拔测试模组，所述第一驱动件的活动端设置有第二连接板，所述第二连接板上设置有两个所述拉拔测试模组，两个所述拉拔测试模组中的两个所述拉拔块分别对应两个键盘中的同一个键帽。

进一步的，所述第二连接板上设置调节两个所述拉拔测试模组之间距离的调节机构。

进一步的，所述压紧件为覆盖在键盘表面上的一个压板。

进一步的，所述压紧件上设置有与相邻两行键帽之间的缝隙对应的条形通槽，相邻两个所述条形通槽之间形成一支撑条，所述支撑条的下表面设置有若干插入到相邻两个键帽之间缝隙中压紧键盘表面的压紧块。