[实用新型]超薄纳米晶带材宽度检测装置

说明书

本实用新型公开了一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整，可以保证检测头检测的带材宽度为准确值。

技术领域

本实用新型涉及纳米晶带材生产制造领域，具体涉及一种超薄纳米晶带材宽度检测装置。

背景技术

纳米晶带材在生产制造过程中，需要对长度、表面光滑度、厚度等进行测试调整，从而保证带材的品质。现有的装置在对带材进行宽度检测时，大多采用红外传感器进行检测，对带材进行横向扫描。然而当带材发生偏移时，整个带材会倾斜，此时，测量的带材宽度数值会偏大，从而造成测量数值失真。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是解决上述现有技术的不足，提供一种超薄纳米晶带材宽度检测装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：一种超薄纳米晶带材宽度检测装置，包括放卷机构、检测平台、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有若干导辊以及用于检测带材宽度的检测头，所述放卷机构包括放卷轴、放卷电机、导辊以及纠偏传感器，纠偏传感器连接PLC控制器，纠偏传感器用于检测带材的位置；PLC控制器控制放卷电机，且放卷轴在PLC控制器控制下，可沿轴往复运动。

进一步的，所述放卷机构还包括一个机架，导辊位于机架上，在机架上还设置一个竖直的安装板，放卷电机、放卷轴均位于安装板上，在机架上设置有气缸，气缸连接安装板用于推动安装板沿放卷轴轴向移动。

进一步的，所述检测平台上设置有两个导辊，两个导辊位于同一高度上，检测头位于两个导辊之间，且检测头为多个。

进一步的，所述检测平台上还设置有张紧辊，张紧辊的转轴两端设置竖直的弹簧，弹簧底部固定在检测平台上表面。

从上述技术方案可以看出本实用新型具有优点：当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整，可以保证检测头检测的带材宽度为准确值。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型中放卷机构的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施方式做具体说明。

如图1所示，本实用新型的超薄纳米晶带材宽度检测装置包括放卷机构、检测平台9、收卷机构以及PLC控制器，所述检测平台上设置有两个导辊10以及用于检测带材宽度的检测头8。检测头可以采用红外传感器，对带材进行扫描，即从带材的一边扫描至带材的另一边，记录为带材的宽度。为了减少检测头本身造成的误差，可以设置多个检测头，取平均值。收卷装置主要包括一个收卷轴12和收卷电机。

如图2所示，所述放卷机构包括放卷轴2、放卷电机13、导辊4以及纠偏传感器5，纠偏传感器5连接PLC控制器，纠偏传感器5用于检测带材的位置，纠偏传感器也可以采用外红传感器，即该纠偏传感器检测到带材对应位置时，表示带材到位，为发生偏移；PLC控制器控制放卷电机。放卷机构还包括一个机架3，导辊4位于机架3上，在机架3上还设置一个竖直的安装板1，放卷电机13、放卷轴2均位于安装板上，在机架上设置有气缸7，气缸7连接安装板1用于推动安装板沿放卷轴2轴向移动。气缸的作动由PLC控制器控制，当纠偏传感器检测到带材发生偏移时，PLC控制器控制气缸作用，收卷轴进行轴向移动进行调整。