[实用新型]一种用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具有效

专利信息
申请号: 201920418012.4 申请日: 2019-03-29
公开(公告)号: CN209570118U 公开(公告)日: 2019-11-01
发明(设计)人: 王龙宏 申请(专利权)人: 英柯欧模具(上海)有限公司
主分类号: G01B5/12 分类号: G01B5/12;G01B5/00
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 201300 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 测量 辅助夹具 轴向台阶 上段孔 测量轴 台阶孔 底座 本实用新型 插接部 下段孔 测量精度高 测量产品 内螺纹 外螺纹 上端 内周 外周 配合
【说明书】:

实用新型公开了一种用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具,包括用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具本体;所述辅助夹具本体包括一底座,在所述底座的中心位置设有与轴向台阶孔的下段孔相配合的测量插接部;所述测量插接部包括安装部和测量部,所述安装部设置在底座上,所述测量部设置在安装部的上端上,在所述安装部的外周面上设有与设置在轴向台阶孔的下段孔的内周面上的内螺纹相配合的外螺纹。本实用新型测量方便,无需测量产品的轴向台阶孔的整体尺寸,能够直接准确的测量出轴向台阶孔的上段孔的尺寸,测量精度高。

技术领域

本实用新型涉及台阶孔尺寸测量技术领域,特别涉及到一种用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具。

背景技术

现有技术中,在测量轴向台阶孔的上段孔的尺寸时,如图1所示,首先需要通过测量工具将产品1的轴向台阶孔101的整体尺寸A测量出,然后再将轴向台阶孔101的下段孔101a的尺寸B测量出,测量人员最后通过轴向台阶孔101的整体尺寸A与轴向台阶孔101的下段孔101a的尺寸B的差值计算出台阶孔101的上段孔101b的尺寸C。采用此种结构测量方式不但提高了测量人员的劳动强度,并且还降低了轴向台阶孔的上段孔的测量精度,且只能测量精度要求较低的产品,无法适应于测量精度要求较高的产品,给产品的轴向台阶孔的上段孔的尺寸测量工作带来了较大的不便。

然而针对现有技术的不足,研发者有必要研制一种设计合理、结构简单、测量方便,无需测量产品的轴向台阶孔的整体尺寸,能够直接准确的测量出轴向台阶孔的上段孔的尺寸,测量精度高的用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具。

实用新型内容

为解决现有技术存在的问题,本实用新型目的提供了一种设计合理、结构简单、测量方便,无需测量产品的轴向台阶孔的整体尺寸,能够直接准确的测量出轴向台阶孔的上段孔的尺寸,测量精度高的用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具。

为解决以上技术问题,本实用新型采用以下技术方案来实现的:

一种用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具,包括用于测量轴向台阶孔的上段孔尺寸的辅助夹具本体;

其特征在于,所述辅助夹具本体包括一底座,在所述底座的中心位置设有与轴向台阶孔的下段孔相配合的测量插接部;

所述测量插接部包括安装部和测量部,所述安装部设置在底座上,所述测量部设置在安装部的上端上,在所述安装部的外周面上设有与设置在轴向台阶孔的下段孔的内周面上的内螺纹相配合的外螺纹。

在本实用新型的一个优选实施例中,在所述底座的外周面上设有耐磨层。

在本实用新型的一个优选实施例中,所述底座整体呈圆柱形。

与现有技术相比,本实用新型的辅助夹具本体包括一底座,在底座的中心位置设有与轴向台阶孔的下段孔相配合的测量插接部,对产品的轴向台阶孔的上段孔的尺寸进行测量时,只需要将测量插接部安装在轴向台阶孔的下段孔上,然后通过测量工具能够直接测量出轴向台阶孔的上段孔的尺寸,采用此种结构无需测量产品的轴向台阶孔的整体尺寸,能够直接准确的测量出轴向台阶孔的上段孔的尺寸,有效的提高了轴向台阶孔的上段孔测量精度。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有方式测量结构示意图。

图2为本实用新型的结构示意图。

图3为本实用新型安装在产品上的结构示意图。

具体实施方式

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