[实用新型]一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器

说明书

本实用新型公开了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺、测量尺和定位结构，所述测量尺上设置有刻度线，定位结构的上表面和/或下表面为平面，所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直，测量尺的长度方向与定位结构的上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺与定位结构或直尺固定连接，测量尺与定位结构固定连接时，测量尺和定位结构能相对直尺上下移动；测量尺与直尺固定连接时，定位结构能相对测量尺上下移动。本实用新型结构简单、使用方便，能够帮助口腔正畸医生更快更方便的准确测量出Spee曲线深度，使得计算牙齿移动所需的间隙量更准确，从而为病人制定更精确的治疗方案。

技术领域

本实用新型属于口腔正畸工具技术领域，具体涉及一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器。

背景技术

在口腔正畸学领域，Spee曲线通常是指下颌牙列中前牙切缘到后牙颊尖在矢状方向形成的圆弧上的一段截弧，其标志为从下颌中切牙近中切缘，下颌侧切牙切缘，下颌尖牙牙尖，下颌第一、第二前磨牙颊尖，下颌第一磨牙近中颊尖到远中颊尖的连线为一条凹向上的曲线。错牙合畸形伴深覆牙合病例常伴有Spee曲线异常。有研究者提出平直的Spee曲线，其口腔咀嚼能力强，过深的Spee曲线会造成咀嚼肌失衡，严重可导致咬合功能障碍，Spee曲线的深度大小影响着正畸治疗后复发的可能性，且临床治疗中存在一定难度。所以准确测量Spee曲线深度以及整平Spee曲线对于每位正畸医生均相当重要，临床上Spee曲线的测量值为牙齿左右两侧测量值相加除以2即取平均数。常规测量时用直尺放于牙齿石膏模型的下切牙与第二恒磨牙颊沟处，测量牙合曲线最低点至直尺的垂直距离，但牙合曲线最低点与直尺并不在同一竖直平面内，两者间相距一定水平距离，所以临床测量主要通过目测或分规平移，而分规针是尖端细末端粗，所以平移测量会存在一定误差，从而影响正畸医生准确掌握Spee曲线真实深度，影响正畸医生的治疗方案。

专利文献CN201510052303公开了一种Spee曲线深度测量装置，其由定位装置及用于测量下颌Spee曲线最低位牙尖到定位装置所在平面垂直距离的测量装置构成；所述定位装置包括用于定位在下颌牙列中线的主定位杆，用于分别放置在左、右下颌牙列正上方的两块测量板，测量板的前或后端设有可以转动的副定位杆，测量板上设有若干测量孔；所述测量板通过连杆与主定位杆活动连接；所述测量板、主定位杆、副定位杆位于同一平面。但是该发明的结构复杂，使用不方便。

发明内容

本实用新型的目的在于提供一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，以解决背景技术中提出的简单方便的测量Spee曲线深度的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供了一种牙齿石膏模型Spee曲线深度测量器，包括直尺、测量尺和定位结构，所述测量尺上设置有刻度线，定位结构的上表面和/或下表面为平面，所述直尺的长度方向与测量尺的长度方向垂直，测量尺的长度方向与定位结构上表面和/或下表面所在平面垂直，测量尺与定位结构或直尺固定连接，测量尺与定位结构固定连接时，测量尺和定位结构能相对直尺上下移动；测量尺与直尺固定连接时，定位结构能相对测量尺上下移动。

进一步地，所述直尺上设置有刻度线，且直尺的最小刻度为0.5mm或1mm，所述直尺的长度为6cm以上，直尺上设置的零刻度线位于直尺的一端，直尺与测量尺相连的位置位于距离直尺零刻度线3～5cm的位置。

进一步地，所述直尺的长度为10～20cm。

进一步地，所述测量尺与定位结构固定连接时，测量尺上设置的零刻度线位于与定位结构的上表面或下表面等高的位置，直尺底面与测量尺交点处的测量尺读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度；所述测量尺与直尺固定连接时，测量尺上设置的零刻度线位于与直尺的底面等高的位置，定位结构上表面或下表面与测量尺交点处的测量尺读数即为所测石膏模型的一侧Spee曲线深度。

进一步地，所述定位结构上表面内的任意两点之间的直线长度小于等于5cm。

进一步地，所述测量尺的刻度范围长度为5mm以上。