[实用新型]一种LAS磁感测试系统有效
申请号: | 201920460610.8 | 申请日: | 2019-04-04 |
公开(公告)号: | CN209512767U | 公开(公告)日: | 2019-10-18 |
发明(设计)人: | 高晓峰;蒋石顺;何国强;向阳;杨明剑;尚俊凯 | 申请(专利权)人: | 深圳鸿泽自动化科技有限公司 |
主分类号: | G01B7/30 | 分类号: | G01B7/30 |
代理公司: | 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 | 代理人: | 谭雪婷;谢亮 |
地址: | 518000 广东省深圳市龙岗区*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
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本实用新型公开一种LAS磁感测试系统,包括:进行产品测试的测试台、输出所述测试台所得数据的显示器、以及为所述测试台及显示器提供电源与气源的机柜,所述测试台包括装夹机构、校准机构、测试机构、磁通计探头、以及磁通计,所述测试机构包括分度盘、穿过所述分度盘的滚筒、与所述滚筒连接的电机、设置于所述滚筒前端的磁体、以及设于所述滚筒并位于分度盘前方的精准定位块。本实用新型通过电机带动磁体、精准定位块旋转,磁体的旋转会改变磁通量的大小,旋转的角度与磁通量的大小相对应,通过磁通计读取不同角度下磁体的磁通量大小,将读取的磁通量大小与标准磁通量相对比,判断被测角度传感器的性能是否合格。
技术领域
本实用新型涉及测试系统领域,尤其涉及一种LAS磁感测试系统。
背景技术
LAS测试是指角度测试,即是对手机、笔记本、智能家电等智能产品中所使用的角度传感器的性能所进行的测试。而现有的LAS测试台采用人工对准磁铁,由于是人工读数,测量结果存在一定的偏差,测试精度较低。
因此,现有技术存在缺陷,需要改进。
实用新型内容
本实用新型的目的是克服现有技术的不足,提供一种LAS磁感测试系统通过电机带动磁体旋转,并通过磁通计读取不同角度下磁体的磁通量大小,通过对照产品在相应磁通量下的反馈,判断产品是否合格。此过程减少人工操作,保证测试的精度和准确性。
本实用新型的技术方案如下:提供一种LAS磁感测试系统,包括:进行产品测试的测试台、输出所述测试台所得数据的显示器、以及为所述测试台及显示器提供电源与气源的机柜,所述测试台包括装夹机构、安装于所述装夹机构上的校准机构、设于所述装夹机构Y轴方向上的测试机构、设于所述装夹机构X轴方向上的磁通计探头、以及与所述磁通计探头连接的磁通计,所述测试机构包括分度盘、穿过所述分度盘的滚筒、与所述滚筒连接的电机、设置于所述滚筒前端的磁体、以及设于所述滚筒并位于分度盘前方的精准定位块。
进一步地,所述分度盘的刻度范围为0°-140°,所述分度盘的精度为10°,即相邻两条刻度线之间相差10°,且在所述分度盘上45°处进行标记。
进一步地,所述分度盘的每格刻度上均设有活动限位块以及驱动活动限位块在分度盘上伸出或凹陷的驱动机构,所述活动限位块的圆心位于刻度线上,所述精准定位块侧边设有缺口,所述精准定位块末端设有指针。
进一步地,所述测试台设有微调校准千分尺。
进一步地,所述磁体采用钕铁硼磁铁N48。
进一步地,所述装夹机构包括:固定座、设于固定座上方的压紧块、以及设于所述固定座一侧面的辅助压紧块,所述压紧块与辅助压紧块均设有通孔,所述固定座对应所述通孔设有螺纹孔,螺钉穿过该通孔锁紧于螺纹孔,所述辅助压紧块两侧设有限位块,通过压紧块与辅助压紧块固定被测产品。
进一步地,所述装夹机构下方设有滑动台,所述滑动台下方设有滑块,所述滑块连接着气缸,所述气缸推动滑块沿X轴方向运动,所述滑动台设有调整旋钮,通过调整所述调整旋钮使所述滑动台沿Y轴方向运动,所述滑动台精度为0.1mm。
进一步地,所述测试机构下方设置有滑动平台,所述滑动平台两侧下方设有导轨,所述滑动平台与平台气缸连接,所述平台气缸推动滑动平台沿Y轴方向运动。
采用上述方案,本实用新型通过电机带动磁体、精准定位块旋转,磁体的旋转会改变磁通量的大小,旋转的角度与磁通量的大小相对应,通过磁通计读取不同角度下磁体的磁通量大小,将读取的磁通量大小与标准磁通量相对比,判断被测角度传感器的性能是否合格。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图。
图2为测试台结构示意图。
图3为测试机构结构示意图。
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