[实用新型]一种高密度LED电路板测试架

权利要求书

1.一种高密度LED电路板测试架，其特征在于，包括第一测试治具(1)和第二测试治具(2)，所述第一测试治具(1)和第二测试治具(2)均包括针盘(3)和线盘(4)，所述线盘(4)包括线盘穿线板(5)和支撑板(6)；所述第一测试治具(1)位于所述线盘穿线板(5)和支撑板(6)之间设置有多个第一支撑柱(7)，所述第一支撑柱(7)位于所述第一测试治具(1)的布线区域(8)内；所述第二测试治具(2)位于所述线盘穿线板(5)和支撑板(6)之间设置有多个第二支撑柱(9)，所述第二支撑柱(9)位于所述第二测试治具(2)的布线区域(8)内，且所述第二支撑柱(9)在布线区域(8)内的覆盖区域位于所述第一支撑柱(7)在布线区域(8)内的覆盖区域之外。

2.根据权利要求1所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，所述线盘穿线板(5)的上侧位于所述布线区域(8)的外缘设置有定位柱(10)，所述针盘(3)上设置有与所述定位柱(10)匹配套接的定位孔(11)。

3.根据权利要求1所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，所述线盘穿线板(5)上密集布设有穿线孔(12)，所述针盘(3)上设置有与所述穿线孔(12)一一对应的探针(13)，所述探针(13)的两端均伸出所述针盘(3)，所述穿线孔(12)内卡接有锥形限位弹簧(14)，所述锥形限位弹簧(14)的一端连接有检测导线(23)，所述探针(13)的下端设置为可插接在所述锥形限位弹簧(14)内并与所述锥形限位弹簧(14)保持接触。

4.根据权利要求3所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，所述穿线孔(12)的上方设置有锥形沉孔(15)，所述锥形限位弹簧(14)的上端卡设在所述锥形沉孔(15)内，且所述探针(13)的外径小于所述穿线孔(12)的内径。

5.根据权利要求4所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，所述针盘(3)包括多层探针插接板(16)，所述第一测试治具(1)位于所述探针插接板(16)之间设置有多个第三支撑柱(17)，所述第三支撑柱(17)位于所述第一测试治具(1)的布针区域(18)内且位于第一支撑柱(7)的正上方；所述第二测试治具(2)位于所述探针插接板(16)之间设置有多个第四支撑柱(19)，所述第四支撑柱(19)位于所述第二测试治具(2)的布针区域(18)内且位于第二支撑柱(9)的正上方。

6.根据权利要求5所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，任一所述探针插接板(16)位于所述布针区域(18)外设置有探针插接板定位孔(20)。

7.根据权利要求1-6任一所述的高密度LED电路板测试架，其特征在于，所述第一支撑柱(7)和第二支撑柱(9)在所述布线区域(8)内均匀布设。