[实用新型]一种半导体恒温试剂柜

权利要求书

1.一种半导体恒温试剂柜，其特征在于：其结构包括自控分立恒温击装置(q)、顶封板(w)、开关键(e)、密封门(r)、支撑底脚(t)、试剂柜(y)，所述自控分立恒温击装置(q)固定安装在试剂柜(y)内部，所述顶封板(w)底端面采用电焊的方式固定连接于试剂柜(y)顶端面，所述开关键(e)通过嵌入的方式安装在试剂柜(y)正端面顶端，所述密封门(r)左端内部通过合页安装在试剂柜(y)正端面，所述支撑底脚(t)共设有四个。

2.根据权利要求1所述的一种半导体恒温试剂柜，其特征在于：所述自控分立恒温击装置(q)包括导环(q1)、横撑板(q2)、侧道条(q3)、制冷机(q4)、连接管(q5)、环套(q6)、恒温输出环(q7)、半导体分流排管(q8)、压条(q9)，所述导环(q1)底端与横撑板(q2)顶端固定连接在一起，所述横撑板(q2)通过嵌入的方式安装在侧道条(q3)内部，所述制冷机(q4)固定安装在试剂柜(y)内部，所述连接管(q5)采用电焊的方式固定连接于半导体分流排管(q8)内侧面，所述半导体分流排管(q8)与恒温输出环(q7)相连接，所述环套(q6)底端与压条(q9)顶端相焊接，所述横撑板(q2)共设有五个且在每个横撑板(q2)上安装有六个导环(q1)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体恒温试剂柜，其特征在于：所述侧道条(q3)采用电焊的方式固定连接于试剂柜(y)内部左右两侧。

4.根据权利要求1所述的一种半导体恒温试剂柜，其特征在于：所述试剂柜(y)底端四角固定安装有支撑底脚(t)。

5.根据权利要求2所述的一种半导体恒温试剂柜，其特征在于：所述制冷机(q4)设于横撑板(q2)的背部。