[实用新型]一种LED特征参量自动采集系统有效

专利信息
申请号: 201920498482.6 申请日: 2019-04-14
公开(公告)号: CN210222188U 公开(公告)日: 2020-03-31
发明(设计)人: 石颉;申海锋;田昌前;赵德宇 申请(专利权)人: 苏州科技大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01M11/02
代理公司: 北京科家知识产权代理事务所(普通合伙) 11427 代理人: 陈娟
地址: 215000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 特征 参量 自动 采集 系统
【说明书】:

实用新型公开了一种LED特征参量自动采集系统,用于对LED样品进行特征参量采集,包括LED试验机构、控制模块、执行机构、检测模块、存储模块、显示模块、电源模块,所述LED试验机构包括水平放置的测试台架、设置于测试台架上的机械臂,所述电源模块为LED样品供电,所述LED样品放置于测试台架上,所述的机械臂通过旋转操作和伸缩操作带动检测模块对LED样品的特征参量进行检测,所述测试台架在LED样品侧设置有短接机构,所述短接机构适于对LED样品进行短接。本实用新型结构简单,控制结构和动作机构可靠稳定,能够消除累计误差,测试精准持续,非常利于推广使用。

技术领域

本实用新型属于光电器件测试技术领域,尤其涉及一种LED特征参量自动采集系统。

背景技术

发光二极管,即发光LED器件是半导体二极管的一种,可以把电能转化成光能。LED具有效率高、光色纯、应用灵活、光线质量高等优异特点,发光二极管在许多光电控制设备中用作光源,在电子设备中用作信号显示器。

然而LED在使用过程中,由于电流及外界环境的影响,其会不可避免的发生老化。LED的老化主要包括芯片的老化以及封装的老化。芯片的老化机理,包括热量积累导致的热机械应力加强、芯片裂纹扩大,工艺不良导致的芯片粘结层完全脱离粘结面等。封装的老化机理主要是高温与潮湿导致封装材料劣化,水汽渗入封装材料内部,导致引线变质、PCB铜线锈蚀,随水汽引入的可动导电离子会驻留在芯片表面,从而造成漏电。老化的LED灯发光效率会大大降低,光色的纯度下降,甚至发生烧毁。

但是LED的老化不易直接观察判断,由于应用数量巨大,也不易通过全部检测来判断。作为现代化节能环保的灯具,一旦发生老化或烧毁,电路将失去指示功能,对维修工作带来巨大的影响。这种现象对于某些重要电路,存在重大的安全隐患。

现有技术中,LED测试技术包括LED电压测量、电流测量、分光检测技术等。其中,LED样品参数的选择和测量关系到检测的可靠性和稳定性,如用传统的方法,老化试验过程太长,而且电参数的采集也受到各种因素的影响。为此,选择一种参数进行有效测量,并为其提供配套的参量自动采集系统,是一种可靠的思路。

鉴于此,本实用新型提出了一种LED寿命特征参量的自动采集系统,该特征参量为光通量,能够根据设定的周期采集并存储LED的光通量,成功地解决上述问题。

实用新型内容

实用新型目的:本实用新型提出一种LED特征参量自动采集系统,能够根据设定的周期采集并存储LED的光通量,参量稳定,测量控制可靠,以解决现有技术中存在的问题。

实用新型内容:一种LED特征参量自动采集系统,对LED样品进行特征参量采集,包括LED试验机构、控制模块、执行机构、检测模块、存储模块、显示模块、电源模块,所述LED试验机构包括水平放置的测试台架、设置于测试台架上的机械臂,所述电源模块为LED供电,所述LED样品放置于测试台架上,所述测试台架在LED样品侧设置有短接机构,所述短接机构适于对LED进行短接。LED试验机构可以单独控制,也可结合其他测试系统进行测试,短接机构短接方式直接而可靠,能够实现单个LED自动短接功能,并保证被测LED不间断供电。

具体的,所述测试台架为圆盘形,并开有原点定位孔;所有LED样品为串联连接,并按照同心、等半径、均匀角度安装在测试台架的圆盘的相应位置。相比直线形的测试机构,圆盘形的台架便于对LED进行操作和和复位,行程小,占用资源少,精度高。

进一步,所述执行机构包括旋转执行机构、伸缩执行机构,所述旋转执行机构和伸缩执行机构分别设置于机械臂上,旋转执行机构驱动机械臂进行旋转操作;机械臂的伸缩执行机构上安装有检测模块。

更进一步,所述控制模块控制旋转执行机构按照预设的速度或角度旋转,旋转至LED样品上方时,控制模块控制旋转执行机构停止旋转;驱动伸缩执行机构将检测模块推送至LED样品附近的预设位置,检测相应LED样品的特征参量,并以存储模块记录。

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