[实用新型]一种COC芯片老化测试设备

权利要求书

1.一种COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述COC芯片老化测试设备(1000)包括多个测试单元(400)和测试架(500)；

每个测试单元(400)均包括用于对COC芯片(205)进行限位的芯片限位组件(410)和用于安装测试探针(302)的探针安装组件(420)，所述探针安装组件(420)位于所述芯片限位组件(410)的正上方；

所述测试架(500)包括芯片限位平台(510)和位于芯片限位平台(510)上方的探针安装平台(520)，各芯片限位组件(410)沿长度方向(L)排列设置在芯片限位平台(510)上，各探针安装组件(420)沿长度方向(L)排列设置在探针安装平台(520)上。

2.根据权利要求1所述的COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述芯片限位组件(410)包括弹力限位机构(412)以及盖板(204)；

所述弹力限位机构(412)包括限位主体(4122)，设置在限位主体(4122)的左侧面的第一弹簧(203)，设置在限位主体(4122)的上表面的顶块(202)以及用于操纵顶块(202)的操纵机构(4124)；

所述芯片限位平台(510)上设置有容纳限位主体(4122)的第一容置槽(512)，所述第一弹簧(203)的左端抵压在所述第一容置槽(512)的壁面上；

所述盖板(204)上设置有用于放置COC芯片(205)的第二容置槽(2042)，所述顶块(202)滑动设置在所述第二容置槽(2042)内。

3.根据权利要求2所述的COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述第二容置槽(2042)的横截面形状呈L形状。

4.根据权利要求3所述的COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述第一容置槽(512)的右侧设置有承载COC芯片(205)的凸台(514)。

5.根据权利要求2所述的COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述操纵机构(4124)包括穿出所述芯片限位平台(510)的前侧壁的移动插销(201)，所述芯片限位平台(510)的前壁设置有与移动插销(201)配合的沿长度方向(L)延伸的长形滑槽(4126)。

6.根据权利要求1所述的COC芯片老化测试设备(1000)，其特征在于，所述探针安装组件(420)包括探针支架(301)，探针定位空心柱(304)以及探针压紧调节柱(306)；

所述探针支架(301)的前侧设置有包围所述探针的探针绝缘体(303)，所述探针定位空心柱(304)设置在所述探针支架(301)的下侧，所述探针压紧调节柱(306)自上向下穿出所述探针支架(301)且下部套设有第二弹簧(305)；

所述探针安装平台(520)包括位于所述探针安装组件(420)下方的探针固定架(307)和位于所述探针安装组件(420)上方的探针保护罩(105)；

所述探针固定架(307)设置有容纳探针支架(301)的第三容置槽(3072)，所述第三容置槽(3072)内设置有与探针定位空心柱(304)配合的探针定位柱(3073)，所述探针绝缘体(303)位于第三容置槽(3072)的外侧前方；

所述探针保护罩(105)固定在所述探针固定架(307)上，且所述探针压紧调节柱(306)的上部穿出所述探针保护罩(105)。