[实用新型]一种半导体材料弯曲测试装置

说明书

本实用新型提供了一种半导体材料弯曲测试装置，包括固定底座，固定底座上端的一侧焊接有固定架，固定架的一侧嵌入有凹槽，凹槽的下方焊接有挡板，固定底座上端的另一侧焊接有支撑架，支撑架的内部贯穿有液压伸缩柱，液压伸缩柱的一侧伸缩连接有连接柱。设置有测试架，使得可通过测试架将不同形状的半导体材料进行固定，避免了现有的测试装置只能对特定形状的材料检测的情况，从而使得该种测试装置能够对不同的半导体材料进行检测，设置有连接环分别与连接口、固定夹和小型连接口配套使用，使得可方便使用者将半导体材料快速与连接柱进行固定，适用于半导体材料技术领域，具有良好的发展前景。

技术领域

本实用新型涉及半导体材料技术领域，具体为一种测试装置。

背景技术

半导体材料是一类具有半导体性能，可用来制作半导体器件和集成电路的电子材料，目前人们通过使用测试装置检测半导体材料弯曲度，但是因半导体材料种类较多，且形状不同，并现有的测试装置在检测时要求形状大致相同，使得现有的测试装置在检测半导体材料时十分不方便，现有技术存在以下缺点：

现有的测试装置在将半导体材料进行检测时，因半导体材料种类形状较多，并使用者无法将不同形状的半导体材料进行快速安装，使得现有的测试装置使用不够方便，且检测效率较低，并使得现有的测试装置无法对不同形状的半导体材料进行检测，为此，本实用新型提供一种半导体材料弯曲测试装置以此解决上述提出的问题。

实用新型内容

本实用新型的旨在于解决现有的测试装置，无法对不同半导体材料进行检测，无法快速安装，使用不够方便的技术问题，提供一种半导体材料弯曲测试装置，通过设置测试架部件，使得该种测试装置能够对不同的半导体材料进行检测，具有广泛的实用性。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体材料弯曲测试装置，包括固定底座，固定底座上端的一侧焊接有固定架，固定架的一侧嵌入有凹槽，凹槽的下方焊接有挡板，固定底座上端的另一侧焊接有支撑架，支撑架的内部贯穿有液压伸缩柱，液压伸缩柱的一侧伸缩连接有连接柱，连接柱的一侧活动螺旋连接有测试架，测试架的一侧均匀焊接有连接环，且连接环分别与连接柱活动螺旋连接，测试架另一侧的中部嵌入有连接口，连接口的两侧镶嵌有固定夹，测试架另一侧的两端嵌入有小型连接口，固定底座上端的一侧镶嵌有刻度线。

优选的，所述小型连接口的直径设置为2cm，所述连接口的直径设置为5cm，且小型连接口、连接口和固定夹分别与连接环呈水平方向配套使用。

优选的，所述连接柱与凹槽呈水平方向对应设置。

优选的，所述固定夹的内侧镶嵌有橡胶。

优选的，所述液压伸缩柱与电源电性连接，且液压伸缩柱与连接柱呈水平方向活动连接。

优选的，所述测试架通过连接环与连接柱活动螺旋连接，且测试架通过连接柱与液压伸缩柱呈水平方向活动连接。

本实用新型获得的有益效果：

本实用新型的提供了一种半导体材料弯曲测试装置，该装置中通过设置有测试架，使得可通过测试架将不同形状的半导体材料进行固定，避免了现有的测试装置只能对特定形状的材料检测的情况，从而使得该种测试装置能够对不同的半导体材料进行检测。

本实用新型通过设置有连接环分别与连接口、固定夹和小型连接口配套使用，使得可方便使用者将半导体材料快速与连接柱进行固定，并能够方便使用者进行检测，从而达到了能够方便使用者快速将半导体材料进行安装的效果。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图。

图2为本实用新型的测试架结构示意图。

图3为本实用新型的固定架结构剖视图。