[实用新型]一种芯片检测装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片检测装置，包括底座，安装在底座上的测试台，所述测试台两侧均设置有滑动槽，两个所述滑动槽之间设置有移动板，所述移动板上固定有底板，所述测试台上设置有固定柱，所述固定柱顶端设置有顶板，所述顶板中心设置有第一通孔，两个所述固定柱之间在所述顶板和所述测试台中间设置有支撑板，所述支撑板中心设置有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔对应设置，所述顶板上固定有连接轴，所述连接轴可伸缩，所述连接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔，所述连接轴底部设置有测试装置，所述连接轴顶部设置有转轮，所述转轮通过连接带与电机连接。本实用新型结构简单，适用于不同大小的芯片检测，采用自动化流程，检测效率高，定位准确。

技术领域

本实用新型涉及器件检测领域，具体涉及一种芯片检测装置。

背景技术

随着科技的发展，电脑、电视等已经变成生活中的必需品，组成这些电子元器件的最重要的零件之一就是芯片，芯片在生产完成后并不能马上投入使用，需要经过严格的检测，经检测合格的芯片才能被投入市场。通常情况下，芯片检测需要人工进行逐一检测，然后将不良品挑拣出，效率低，定位不准确，出错率高。少数工厂采用集成电路来检测芯片，但测试设备价格昂贵，且测试时间长，测试成本高，一个设备只能检测一种芯片，适用范围狭窄。

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种芯片检测装置，适用于不同大小的芯片检测，采用自动化流程，检测效率高，稳定性好。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种芯片检测装置，包括底座，安装在底座上的测试台，所述测试台两侧均设置有滑动槽，两个所述滑动槽之间设置有移动板，所述移动板上固定有底板，所述测试台上设置有固定柱，所述固定柱顶端设置有顶板，所述顶板中心设置有第一通孔，两个所述固定柱之间在所述顶板和所述测试台中间设置有支撑板，所述支撑板中心设置有第二通孔，所述第一通孔与所述第二通孔对应设置，所述顶板上固定有连接轴，所述连接轴可伸缩，所述连接轴穿过所述第一通孔和所述第二通孔，所述连接轴底部设置有测试装置，所述连接轴顶部设置有转轮，所述转轮通过连接带与电机连接。

进一步地，所述测试台的表面四个角上设置有安全光栅。

进一步地，所述底座上还设置有外框架，所述外框加上设置有三色灯。

进一步地，所述外框架上设置有显示器。

进一步地，所述底板上设置有制冷片。

进一步地，所述移动板设置有一个或者多个。

进一步地，所述底座上设置有温控器，所述温控器穿过所述测试台。

本实用新型的有益效果：本装置结构简单，操作方便，连接轴被电机控制并且同时穿过第一通孔和第二通孔，移动板可以在滑动槽内来回移动，可以更加精确的定位移动轴下测试装置与底板上芯片的位置，检测效果好；检测装置可以更换，底板也可以更换，可以检测不同种类的芯片，适用范围广。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图。

图2是本实用新型的俯视结构示意图。

图中标号说明：1、底座，2、测试台，3、滑动槽，4、移动板，5、底板，6、固定柱，7、支撑板，8、连接轴，9、测试装置，10、电机，11、转轮，12、连接带，13、第一通孔，14、第二通孔，15、顶板，16、外框架，17、三色灯，18、温控器，19、显示器，20、安全光栅。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本实用新型并能予以实施，但所举实施例不作为对本实用新型的限定。