[实用新型]一种光学元件多姿态检测通用工装有效

专利信息
申请号: 201920604950.3 申请日: 2019-04-29
公开(公告)号: CN209624003U 公开(公告)日: 2019-11-12
发明(设计)人: 刘昂;赵智亮;徐凯源;柴立群;唐晓东;任寰;何宇航;魏小红;万道明 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 51230 代理人: 汤春微
地址: 621900*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 夹持梁 本实用新型 光学元件 铰接活页 通用工装 姿态检测 夹持框 光学元件检测 装置技术领域 夹持稳定 铰接处 铰接
【说明书】:

本实用新型公开了一种光学元件多姿态检测通用工装,涉及光学元件检测装置技术领域,本实用新型包括夹持框,夹持框包括依次铰接的夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D,夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D可围成一个矩形,其中夹持梁A与夹持梁B、夹持梁B与夹持梁C、夹持梁C与夹持梁D的铰接处均设置有铰接活页,铰接活页的展开角度为90°‑180°,本实用新型具有结构简单、操作方便快捷、夹持稳定的优点。

技术领域

本实用新型涉及光学元件检测装置技术领域,更具体的是涉及一种光学元件多姿态检测通用工装。

背景技术

在精密光学制造与检测领域,评价光学元件加工质量的关键参数包括波前质量、应力双折射、光谱特性、焦距及表面粗糙度等,因各参数类型不同,需要在不同检测姿态的精密检测仪器上进行检测,检测前要求对光学元件进行长达数小时的应力平衡和温度平衡。精密光学检测仪器的检测姿态主要取决于系统光轴方向,一般分为竖直和水平两个方向,故要求元件可以在无外界干扰的条件在两种姿态之间切换,应力平衡和温度平衡分别是为了消除元件在装夹、搬运等接触过程的应力及温度影响。

目前,精密光学检测行业内无用于大口径光学元件(300mm×300mm以上)检测的通用工装夹具,且元件姿态切换操作需要先拆卸、更换夹具再装夹,拆卸重装过程通常会对元件自身引入装夹及搬运应力,影响了检测精度,同时增加了碰伤元件的风险,接触过程也会引入温度变化,需要重新进行温度平衡,降低了检测效率。目前国内外没有专门用于光学检测的标准统一的检测夹具,现有技术方案大多根据检测需要专门设计。其中,专利申请号为“201220571394.2”的实用新型专利公开了“一种光学元件夹持装置”,所述的装置适用于多种规格、形状的光学元件使用,该实用新型中的吊装梁包括调节开关、吊装孔和封板栓,夹持梁包括夹持“U”形槽、夹持定位孔和夹持滑槽,承重梁包括承重“U”形槽、承重定位槽和承重滑槽,所述吊装梁通过吊装梁的调节开关与夹持梁固定连接,所述承重梁通过定位栓与夹持梁固定连接。该实用新型中装置的四个装夹梁(即吊装梁、承重梁、夹持梁I和夹持梁II)在装夹之前是分离的结构,只能先把元件竖直放置在承重梁上才能装夹,适用范围有限,且装夹过程需先后连接各装夹梁,操作复杂,需要至少两人协作完成,操作效率低。除此之外,该光学元件夹持装置还存在以下缺陷:

(1)夹持装置中的“U”型槽与元件均采用刚性接触,可能存在过度挤压元件和过于松动两种夹持状态,过度挤压元件时会对元件造成外部应力,改变元件光学特性,过于松动会在夹具倾斜时,造成元件倾倒或碰伤风险;

(2)吊装梁通过调节开关固定在两侧夹持梁I和夹持梁II上,在两侧调节开关位置均无锁紧和保护装置,存在吊装梁脱落风险。

故如何解决上述技术问题,对于本领域技术人员来说很有现实意义。

实用新型内容

本实用新型的目的在于:为了解决现有光学元件夹持装置中的四个装夹梁在装夹之前是分离的结构,只能先把元件竖直放置在承重梁上才能装夹,适用范围有限,且装夹过程需先后连接各装夹梁,操作复杂,需要至少两人协作完成,操作效率低的技术问题,本实用新型提供一种光学元件多姿态检测通用工装。

本实用新型为了实现上述目的具体采用以下技术方案:

一种光学元件多姿态检测通用工装,包括夹持框,夹持框包括依次铰接的夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D,夹持梁A、夹持梁B、夹持梁C和夹持梁D可围成一个矩形,其中夹持梁A与夹持梁B、夹持梁B与夹持梁C、夹持梁C与夹持梁D的铰接处均设置有铰接活页,铰接活页的展开角度为90°-180°。

进一步地,夹持梁A和夹持梁D的内侧均设置有夹块A,夹持梁B和夹持梁C的内侧均设置有夹块B,夹块A和夹块B的内侧均设置有用于卡接光学元件的凹槽。

进一步地,夹块A与对应的夹持梁A和夹持梁D之间均设置有缓冲装置,缓冲装置包括若干连接在夹块A与对应的夹持梁A和夹持梁D之间的压缩弹簧。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201920604950.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top