[实用新型]一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备有效
申请号: | 201920605161.1 | 申请日: | 2019-04-28 |
公开(公告)号: | CN210982267U | 公开(公告)日: | 2020-07-10 |
发明(设计)人: | 张韡 | 申请(专利权)人: | 北京航星机器制造有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 陈鹏 |
地址: | 100013 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 适用于 圆筒 物品 工业 无损 检测 设备 | ||
1.一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:包括射线源(302)、装置壳体(304)、X光探测器(305),所述装置壳体(304)为方形壳体,用于对圆筒型被测物由内部进行射线照射的射线源(302)安装于装置壳体(304)一边,安装方向与装置壳体(304)表面平行,用于探测照射射线强度的X光探测器(305)安装于装置壳体(304)上与射线源(302)安装位置相邻一边,X光探测器(305)探测方向与射线源(302)安装方向在同一平面内并与射线源(302)安装方向垂直,所述被测物安装于装置壳体(304)表面。
2.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:还包括射线源收置箱(301),用于在未进行检测时收纳射线源(302)的射线源收置箱(301),设置于装置壳体(304)一侧边沿。
3.根据权利要求1或2所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述射线源(302)通过竖直设置于装置壳体(304)一边的射线源升降轴(303)进行固定及照射检测时的高度调节。
4.根据权利要求3所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述X光探测器(305)通过竖直设置于与射线源升降轴(303)安装边相邻另一边的探测器升降轴(306)进行固定及射线探测时的高度调节。
5.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述被测物通过轴距调节轴(308)、弧距调节轴(309)进行位置固定,用于调节被检物放置位置大小的轴距调节轴(308)及用于调节适配被检物弧度的弧距调节轴(309)均安装于射线源收置箱(301)表面,弧距调节轴(309)置于被测物侧壁两端卡住被测物,轴距调节轴(308)设置于其中一个弧距调节轴(309)侧面进行轴距调节。
6.根据权利要求5所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述弧距调节轴(309)与被测物侧壁接触部分,设置有于检测过程中带动被测物旋转的被检物滚动电机(307),通过带动被测物旋转使射线源(302)、X光探测器(305)能够对被测物进行全面检测。
7.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述射线源(302)通过安装于装置壳体(304)表面的射线源位置调节轴(311)进行初始检测位置的横向调节。
8.根据权利要求1所述的一种适用于圆筒型物品的工业无损检测设备,其特征在于:所述射线源(302)于测试时伸入被检物中空部分,射线源(302)端头向侧向一周发出射线,穿过被检物侧壁后由X光探测器(305)接收并记录射线衰减量。
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