[实用新型]缺陷检测装置及硅片分选设备

权利要求书

1.一种缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置包括：

检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于所述输送装置的指定检测位置上方，用于对经过所述指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及

光源，设置在所述输送装置的机架上，用于向所述指定检测位置提供光照。

2.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述指定检测位置为所述输送装置的相邻两段传送带之间的间隔位置；

所述缺陷检测装置还包括用于将来自所述光源的光线反射至所述电池片或硅片的反光板，所述反光板设置在所述间隔位置处，且低于所述输送装置的输送平面。

3.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括挡光板，所述挡光板用于阻挡外界光线照射至所述指定检测位置，所述挡光板竖直设置在所述光源与所述输送装置的输送平面之间。

4.根据权利要求3所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括水平调节机构，用于调节所述挡光板的水平位置。

5.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括角度调节机构，用于调节所述光源的光照角度，所述角度调节机构包括：

第一支架，与所述输送装置的机架连接；

转轴，水平设置，且可旋转的设置在所述第一支架上，所述光源与所述转轴连接；

调节板，设置在所述转轴的外周壁一侧，且包括相对于所述转轴的外周壁凸出的凸出部分；

调节螺钉，在所述第一支架上设置有螺纹孔，所述调节螺钉与所述螺纹孔相配合，且所述调节螺钉的一端抵触在所述调节板的凸出部分上，以能够通过旋转所述调节螺钉来使所述调节板及所述转轴旋转，以调节所述转轴的旋转角度。

6.根据权利要求5所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括高度调节机构，用于调节所述光源的高度，所述高度调节机构包括：

第二支架，与所述输送装置的机架固定连接；

滑动结构，用于使所述第二支架与所述第一支架在竖直方向上可移动的连接；

锁紧机构，用于锁紧固定所述第一支架与所述第二支架的相对位置。

7.根据权利要求6所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括吊装机构，所述吊装机构包括：

第一连接板，设置在所述第一支架上，且在所述连接板中设置有沿竖直方向贯通所述第一连接板的螺纹孔；

第二连接板，设置在所述第二支架上，且位于所述第一连接板的上方，并且在所述第二连接板中设置有沿竖直方向贯通所述第二连接板的通孔；

吊装螺栓，自上而下穿设于所述通孔和所述螺纹孔，且与所述螺纹孔螺纹配合。

8.根据权利要求7所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述光源为水平设置的条形光源；

所述高度调节机构和角度调节机构均为两套，且分别位于所述条形光源的两端；

所述吊装机构设置在靠近所述条形光源的中心的位置处。

9.根据权利要求1所述的缺陷检测装置，其特征在于，所述缺陷检测装置还包括检测位置调节机构，用于调节所述检测单元的水平位置和/或高度。

10.一种硅片分选设备，其特征在于，所述硅片分选设备包括如权利要求1-9任意一项所述的缺陷检测装置。