[实用新型]一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置有效

专利信息
申请号: 201920694033.9 申请日: 2019-05-16
公开(公告)号: CN209911287U 公开(公告)日: 2020-01-07
发明(设计)人: 杨天丽;刘雪梅;龙开明;罗立力;王海龙;孙明良;杨凤杰;欧阳群益 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N27/62 分类号: G01N27/62
代理公司: 51210 中国工程物理研究院专利中心 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 氙同位素 丰度 本实用新型 测量装置 大气样品 四极质谱 四极 测量 四极质谱仪 同位素丰度 质量分析器 测量单元 低温提取 进样单元 可拆卸的 离子探测 分析 重量轻 标称
【说明书】:

本实用新型公开了一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置。该装置包括进样单元、一级纯化单元、二级纯化单元、低温提取单元和四极测量单元。该装置在四极质量分析器的前端增加了简单纯化单元,利用多离子探测模式,形成一个能够实现同位素丰度比测量功能的静态四极质谱仪。针对大气样品,该装置仅需要不超过1mL标准体积的气体,采用一定的处理技术,对氙同位素丰度比在10‑3范围的测量值与标称值相对偏差小于2.0%。本实用新型的分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置具有部件重量轻、占地少、可拆卸的特点,能够满足现场大气样品中氙同位素丰度比的准确分析。

技术领域

本实用新型属于气体同位素质谱分析领域,具体涉及一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置。

背景技术

武器用钚材料通过乏燃料后处理提取方式生产获得。为防止核材料非法扩散、提高核安全保障监督体系的有效性,国际原子能机构(IAEA)在“93+2”计划中指出环境取样可作为一种核查手段。面对保障框架下众多民用的大规模后处理厂,获取烟囱附近环境气体,监测重稀有气体氪、氙的同位素组分(特别是稳定氙同位素),可推导正在处理的乏燃料的相关信息:燃料的燃耗、燃耗的高低、生产该燃料的反应堆类型、240Pu/239Pu、燃料中Pu的浓度,是核查人员探测未申报核材料或秘密核活动的重要技术依据。

常规环境取样分析是核查人员现场取样后将其分发至IAEA的网络实验室进行分析,周期长、样品输运过程中容易发生意外,有必要推荐现场取样分析方式以满足分析速度快、样品真实性高的要求。四极质谱仪具有体积小、重量轻、速度快等特点是现场取样分析最佳设备,然而商用四极质谱仪均为连续流进样分析,其探测下限只能达到5ppb,对应分析精度超过20%以上,现有的商用四极质谱仪无法实现氙同位素丰度比的测量。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置。

本实用新型的分析ppb量级氙同位素丰度比的四极质谱测量装置,其特点是,所述的四极质谱测量装置包括进样单元、一级纯化单元、二级纯化单元、低温提取单元和四极测量单元;

进样单元包括通道、全金属微漏阀、样品室、薄膜压力计、隔离阀Ⅰ、隔离阀Ⅱ和金属三通接头;金属三通接头的进气端通过通道与样品瓶连通,金属三通接头的一个出气端通过通道与隔离阀Ⅰ、全金属微漏阀和样品室顺序连通,金属三通接头的另一个出气端通过通道与隔离阀Ⅱ和涡旋干泵顺序连通;薄膜压力计测量样品室的压力;气体样品进入通道,通过全金属微漏阀控制样品进样速度,利用压力计监控压力变化,将被分析的大气样品准确定量引入样品室。

一级纯化单元包括高温去气炉和全金属角阀Ⅰ,所述的高温去气炉通过全金属角阀Ⅰ与样品室连通,高温去气炉中装填有吸附材料Ⅰ;进入样品室的气体扩散至高温去气炉,在高温下吸附大量活性组分,得到较纯的稀有气体组分Ⅰ,被吸附的大量活性组分至少包括N2、O2、CO2、CH4、CO等;

二级纯化单元包括样品通道、去气炉和真空规;所述的样品室通过样品通道与全金属隔离阀Ⅱ、全金属角阀Ⅵ、全金属隔离阀Ⅲ、全金属角阀Ⅴ、全金属角阀Ⅲ和去气炉顺序连通,全金属角阀Ⅵ上还顺序安装有涡轮分子泵和涡旋干泵,全金属角阀Ⅴ上还安装有离子溅射泵,全金属角阀Ⅴ、全金属角阀Ⅲ之间的样品通道上安装有真空规;去气炉中装填有吸附材料Ⅱ;气体组分Ⅰ进入二级纯化单元的去气炉中,在一定的温度下吸附剩余的活性组分,得到更为纯净的稀有气体组分Ⅱ。气体组分Ⅰ中被吸附的活性组分至少包括N2、O2、CO2、CH4、CO以及大量的氢;

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