[实用新型]一种芯片测试用支撑机构有效
| 申请号： | 201920696631.X | 申请日： | 2019-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN210037903U | 公开（公告）日： | 2020-02-07 |
| 发明（设计）人： | 秦科君;邵洪春;徐斌 | 申请（专利权）人： | 耐而达精密工程(苏州)有限公司;秦科君 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 32103 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 殷増浩 |
| 地址： | 215122 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 电路板 支撑 底侧面 抵触连接 本实用新型 测试底座 支撑机构 支撑机框 电路板固定 可拆卸连接 精度要求 可拆卸的 连接机构 芯片测试 芯片固定 螺丝锁 上侧面 公差 拆卸 产线 调试 耗时 抵触 制作 | ||
1.一种芯片测试用支撑机构，所述芯片固定在电路板上，所述电路板的上侧面设置有测试底座，所述支撑机构包括支撑在所述电路板底侧面上的支撑机框、用于对所述电路板底侧面中部进行支撑的支撑块，其特征在于：所述测试底座与所述电路板固定连接，所述支撑块通过第一连接机构可拆卸的连接在所述支撑机框上，所述支撑块与所述电路板的底侧面中部通过抵触连接机构可拆卸连接，且所述支撑块通过所述抵触连接机构为所述电路板底侧面中部提供支撑。
2.根据权利要求1所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述抵触连接机构包括将所述支撑块和所述电路板相连接的第二连接机构、抵触在所述支撑块和所述电路板之间的多组抵触单元，每组所述抵触单元包括多组抵触机构。
3.根据权利要求2所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述抵触机构包括开设在所述支撑块上的螺纹孔、与所述螺纹孔配合螺纹连接的栓柱体，所述栓柱体的一端部穿过所述螺纹孔且能够与所述电路板相抵触，所述栓柱体的另一端部开设有内六角槽。
4.根据权利要求3所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述抵触机构还包括用于在所述栓柱体的一端部与所述电路板相抵触时，为所述栓柱体与所述螺纹孔提供锁止力的锁止件。
5.根据权利要求4所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述抵触机构还包括套设于所述栓柱体外周且与所述支撑块相抵触设置或者相固定连接的稳定套。
6.根据权利要求5所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述栓柱体与所述电路板相抵触的一端形成有抵触头，所述锁止件为套设在所述栓柱体外周且位于所述稳定套内周的弹簧，所述弹簧的一端部与所述抵触头抵触设置，另一端部与所述稳定套相抵触。
7.根据权利要求3所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述电路板包括板体和固定在所述板体的靠近所述支撑块的一侧面上的多个牙套，所述栓柱体的一端部与所述牙套相抵触设置。
8.根据权利要求1所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述支撑块的轮廓边呈长方形状，所述支撑块的两侧长边分别形成有用于与所述支撑机框对接的对接部，所述第一连接机构包括用于将两侧的所述对接部与所述支撑机框固定连接的六个第一螺栓。
9.根据权利要求2所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述第二连接机构包括用将所述支撑块与所述电路板连接的两个第二螺栓，两个所述第二螺栓位于所述支撑块的中部。
10.根据权利要求2所述的芯片测试用支撑机构，其特征在于：所述抵触单元共有十二组，每组抵触单元共有四组抵触机构。
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