[实用新型]内径测量仪

说明书

本实用新型涉及测量仪器技术领域，公开了一种内径测量仪。该内径测量仪通过测量端的测头滑块组直接测量深孔内径，第一测量杆、第二测量杆以及同步滑块组的配合可以将测头滑块组的变化同步反映至位于孔外的读数端，通过测量机构测量读数端的径向或者轴向位移实现内径的测量。其结构简单、操作方便，成本低廉，测量效率高、精度高，测量范围广，适用于小口径深孔的测量。

技术领域

本实用新型涉及测量仪器技术领域，具体针对孔深在2000mm范围内的内径测量仪。

背景技术

在机械行业中，传统的孔径测量多采用游标卡尺和内径千分尺来实现指导工件的加工、衡量装配体中孔的装配精度和校正安装位置的目的，但是由于该两种测量仪器受其自身结构的限制，使用范围有限，不能到达深度较深的待测点对小孔内径进行测量，同时内径千分尺测头处的钢球易磨损而影响测量精度。随着微型化和高精度技术的发展，目前国内外测量孔径的方法可分为接触式测量和非接触式测量，其中接触式测量方法有坐标机测量法和电接触法，非接触式测量法有光学法、气动法。坐标机测量法操作复杂，测杆和测头容易因为接触力而发生机械变形，造成较大的测量误差；电接触法是利用测头与孔壁接触瞬间使电路通电进行瞄准测量，测量精度低；光学法多用来测量大孔的内径，并且孔端面的毛刺及其他缺陷会影响测量精度；气动法测量不能测得任意截面的尺寸和形状误差。

公开号为CN206399333U的专利申请公开了一种螺杆机内筒测量工具，主要由测量管、第一测量头、第二测量头以及测量杆构成，第一测量头和第二测量头分别设有用于测量的第一横杆和第二横杆。其中，第一测量头与测量管固定件，第二测量头则可沿测量管径向移动，测量杆与第一测量头直面配合，第二测量头与通过斜面配合，推动测量杆沿轴向运动即可将使第二测量头向外运动，第一横杆和第二横杆分别接触孔内壁，通过斜面的角度及测量杆的位移量可以获得内径的变化量。该专利申请的技术方案一定程度上解决了深孔内径测量的问题，但是仍存在一些问题。其测量端结构具有多个滑动配合，即测量杆与第一测量头、测量杆与第二测量头以及第二测量头与测量管均存在滑动配合，多个滑动配合会降低精度测量精度，加之测量端在测量时位于深孔内无法观测其具体状况，较为复杂的配合结构则意味着其可靠性较差。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种结构简单、测量精度高的内径测量仪。

本实用新型公开的内径测量仪，包括第一测量杆、第二测量杆、测头滑块组和同步滑块组，所述第一测量杆和第二测量杆均设有测量端和读数端，第一测量杆和第二测量杆相互平行；

所述测头滑块组包括第一测头和第二测头，所述第一测头和第二测头外端面均具有测量面，所述第一测头设置于第一测量杆的测量端，所述第二测头设置于第二测量杆的测量端，第一测头与第二测头通过斜面滑动配合；

所述同步滑块组包括第一同步滑块和第二同步滑块，所述第一同步滑块设置于第一测量杆的读数端，所述第二同步滑块设置于第二测量杆的读数端，第一同步滑块和第二同步滑块通过斜面滑动配合；

所述测头滑块组和同步滑块组的斜面方向相同且倾角相等；

所述第一测量杆和第二测量杆的读数端设置有用于测量第一测量杆和第二测量杆轴向或者径向相对位移的测量机构。

优选地，所述第一同步滑块上远离第一测量杆的一端设置有第一延长杆，所述第二同步滑块远离第二测量杆的一端设置有第二延长杆，所述测量机构设置于第一延长杆与第二延长杆之间。

优选地，所述测量机构是用于测量第一测量杆和第二测量杆轴向相对位移的百分表，所述百分表的主体安装于第一延长杆上，百分表的测杆沿第二测量杆轴向布置，测杆的端部与第二延长杆的端面接触配合。

优选地，所述测量机构是用于测量第一测量杆和第二测量杆径向相对位移的百分表，所述百分表的主体安装于第一延长杆上，百分表的测杆沿第二测量杆径向布置，测杆的端部与第二延长杆的侧面接触配合。