[实用新型]一种ADC电路的模数混合测试通道

说明书

本实用新型公开了一种ADC电路的模数混合测试通道，包括电路板、数字电路、模数电路和模拟电路，电路板上设置有数字电路、模数电路和模拟电路，数字电路、模数电路和模拟电路之间通过ADC测试通道相连，数字电路分别与数字信号输入端和数字信号输出端相连，模拟电路分别与模拟信号输入端和模拟信号输出端相连，模数电路与模数输入端和模数输出端相连，ADC测试通道与通道输入端和通道输出端相连。本实用新型有助于芯片级内测试，用虚拟探针代替传统的物理探针，用较少测试线完成芯片内核功能、元器件与PCB板、芯片间的互连等方面测试。

技术领域

本实用新型涉及的是一种电路系统，具体涉及一种ADC电路的模数混合测试通道。

背景技术

数字电路测试技术已经成熟，但每片数字芯片都加入测试通道，其成本将增加很多。模拟电路测试现在都是各公司有自己的测试方法，模拟电路无法统一标准。因为自然界的信号大多是模拟的，数字系统也可能要输出模拟信号。由于电子产品发展较快，越来越多的模数混合信号的设备被设计出来，推出的高集成度模数混合信号器件层出不穷，即在单一芯片上同时设计出数字器件和模拟器件的系统级芯片。很多传统上使用模拟电路技术的应用现在大部分都被模数混合电路技术所取代。所以针对模数混合电路设计测试通道，在电路板测试中，用ADC测试通道取代纯数字和纯模拟的芯片测试通道，有利于降低成本。

综上所述，本实用新型设计了一种ADC电路的模数混合测试通道。

实用新型内容

针对现有技术上存在的不足，本实用新型目的是在于提供一种ADC电路的模数混合测试通道，针对模拟信号的测试相对较困难，通过ADC（模数转换）电路转换为数字信号便于测试。设计模数混合测试通道，有助于芯片级内测试，用虚拟探针代替传统的物理探针，用较少测试线完成芯片内核功能、元器件与PCB板、芯片间的互连等方面测试。

为了实现上述目的，本实用新型是通过如下的技术方案来实现：一种ADC电路的模数混合测试通道，包括电路板、数字电路、模数电路和模拟电路，电路板上设置有数字电路、模数电路和模拟电路，数字电路、模数电路和模拟电路之间通过ADC测试通道相连，数字电路分别与数字信号输入端和数字信号输出端相连，模拟电路分别与模拟信号输入端和模拟信号输出端相连，模数电路与模数输入端和模数输出端相连，ADC测试通道与通道输入端和通道输出端相连。

本实用新型是把模拟信号和数字信号可以同时测试，在电路正常工作时，也可以测试，及时把所需信号反馈给主控，及时了解电路的运行状况。同时测试，可减少单独测试的测试向量，并可提高测试覆盖率。把测试通道搭建到ADC电路中，电路还可以进行ADC转换，扩展其应用领域，使模拟信号转成数字信号提高电路的控制器信号处理运算。

本实用新型为了降低测试成本和提高故障覆盖率，为电路设计测性预留可测试节点；模拟电路部分采用模拟信号加AD转换器构造；被测电路为模数混合电路、数字电路、模拟电路；辅助电路为模数混合测试通道提供模拟激励。

本实用新型的有益效果：ADC电路的模数混合测试通道明显效果是减少电路测试成本，提高测试效率，提高故障覆盖率，使模拟电路和数字电路同时测试。适合模数电路板、模拟电路板级、数字电路板级设计测试，同样实用模数转换器芯片级设计，可以把测试通道搭建到模数转换器芯片内部，使测试更广的芯片级电路。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型；

图1为本实用新型的电路结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。