[实用新型]光学测试控制装置

说明书

本实用新型提供一光学测试控制装置，其包括一主体、一罩体以及一控温组件，其中所述罩体被覆盖于所述主体，所述罩体和所述主体之间形成一测试空间，测试对象被放置于所述测试空间，所述控温组件被设置于所述测试空间，其中所述控温组件对所述测试空间内的光学测试的一目标温度进行调节。

技术领域

本实用新型涉及光学测试领域，更具体地涉及一光学测试控制装置。

背景技术

镜头的光学性能在一定程度上会受到温度的影响。特别是温度过高或过低的极端情况下，镜头受到温度影响，产生较大变化，可能导致产品的光学表现不如预期。因此，需要在生产环节之后，对不同温度下的镜头的各项光学性能参数进行精确测定，保证出厂的良率。

目前常规的镜头高低温光学性能测试的一种方式为将镜头放到高低温箱中，进行温度调节，当镜头的温度被加热或制冷至一目标的测试温度时，快速地将镜头取出后再进行相同的光学性能测试。在这个过程中，被调节至一定温度的镜头需要从高低温箱中转移至一测试点，环境温度发生变化，镜头的温度受到外界影响而变得不稳定。而测试过程中，对镜头没有采用一定的保温措施，镜头的温度无法有效稳定在目标的测试温度上下，因此测试得到的光学性能参数并不一定是在目标的测试温度下的参数，实际温度会与目标测试温度有差距。

而还有一种方式是将镜头和测量设备整体放进高低温箱中，对镜头直接进行光学性能测试，但是由于测量设备本身的测试精度与温度相关，温度变化会影响测量设备的准确性，因此无法区分测量所得的光学性能参数在不同温度下的变化是由于镜头还是测量设备引起的，因此测试得到的光学性能参数也无法精确反应镜头在不同温度下的光学性能。并且，测量设备一般具有一定的体积，在高低温箱中操作测量设备具有一定的难度，实施困难。

在对镜头进行高低温的光学性能测试时，需要一种设备对光学性能测试进行高低温控制。

实用新型内容

本实用新型的一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置实现光学测试的一温度调节空间和对镜头的测试空间的一体化。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置具有一测试空间，所述测试空间放置一测试对象进行光学测试，所述测试空间在测试过程中呈真空状态，并且具有良好的密封性和绝热性，以防止内部环境受到外部环境的影响。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，外部光线可以进入所述测试空间，使得该测试对象被调节温度后可以直接在所述测试空间进行光学测试。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，可以在所述光学测试控制装置的外部使用其他光学性能测量设备对镜头进行光学测试，使得光学性能测量设备的操作不受到空间限制。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置可以在所述测试空间中对该测试对象进行温度调节和光学测试，使得温度调节和测试在同一空间进行，过程中，该测试对象不需要被取出，测试时的温度不会受到外部空间的影响，因此温度不会发生变化，有利于获取目标温度相对应的光学性能参数。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述测试空间经过绝热和密封设置，有利于该测试对象的保温。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置包括一主体和一罩体，所述主体和所述罩体之间形成所述测试空间，所述罩体和所述主体之间的连接处经过密封处理，以防止内部和外部空间连通对该测试对象产生影响。

本实用新型的另一个优势在于提供一光学测试控制装置，所述光学测试控制装置包括一控温组件和一二级控温组件，通过所述控温组件和所述二级控温组件对温度进行二级控制。