[实用新型]扫查架及扫查设备

说明书

本申请涉及无损探伤技术领域，具体而言，涉及一种扫查架及扫查设备。扫查架包括支撑机构、行走机构和夹持机构。行走机构设置于支撑机构上。夹持机构包括机构本体，以及用于夹持扫查探头的夹持组件，机构本体设置于支撑机构上，夹持组件设置于机构本体上，且能够调节与机构本体的相对位置，用以改变扫查探头与被测物体上目标部位的间隔距离。本申请实施例提供的扫查架及扫查设备能够实现保证无损探伤检测结果准确性，以提高适用范围的技术效果。

技术领域

本申请涉及无损探伤技术领域，具体而言，涉及一种扫查架及扫查设备。

背景技术

超声波相控阵技术(Phased Array Ultrasonic Testing，PAUT)是一种通过对超声阵列换能器中各阵元进行相位控制，获得灵活可控的合成波束的技术，它具有电子扫描、声束偏转、动态聚焦、三维成像等功能，近年来在无损探伤领域，得到了越来越广泛的应用。

在利用超声波相控阵技术进行无损探伤时，往往需要使用扫查架，将扫查探头设置于扫查架上，以保证扫查探头在相对于被测物体移动时的稳定性。但现有技术中，针对每个规格一定的扫查架，其只能应用于单一大小的被测物体，当需要应用于体积更大或者体积更小的被测物体时，检测结果往往会存在很大误差，因此，适用范围极小。

实用新型内容

有鉴于此，本申请实施例的目的在于，提供一种扫查架及扫查设备，以实现针对不同体积大小的被测物体，都能够保证检测结果准确性，以提高适用范围的技术效果。

第一方面，本申请实施例提供的扫查架包括支撑机构、行走机构和夹持机构；

所述行走机构设置于所述支撑机构上；

所述夹持机构包括机构本体，以及用于夹持扫查探头的夹持组件，所述机构本体设置于所述支撑机构上，所述夹持组件设置于所述机构本体上，且能够调节与所述机构本体的相对位置，用以改变所述扫查探头与被测物体上目标部位的间隔距离。

本申请实施例中，扫查架包括支撑机构、行走机构和夹持机构，其中，行走机构设置于支撑机构上，夹持机构包括机构本体，以及用于夹持扫查探头的夹持组件，机构本体设置于支撑机构上，夹持组件设置于机构本体上，且能够调节与机构本体的相对位置，用以改变扫查探头与被测物体上目标部位的间隔距离。如此，在本申请实施例提供的扫查架的使用过程中，当被测物体较大时，能够通过调节夹持组件与机构本体的相对位置，用以增大扫查探头与被测物体上目标部位的间隔距离，当被测物体较小时，能够通过调节夹持组件与机构本体的相对位置，用以减小扫查探头与被测物体上目标部位的间隔距离，从而实现针对不同体积大小的被测物体，都能够保证无损探伤检测结果准确性，以提高适用范围的技术效果。

结合第一方面，本申请实施例提供了第一方面的第一种实施方式，所述机构本体包括第一夹持条和第二夹持条；

所述第一夹持条上设置有多个第一调节孔，且所述第一夹持条设置于所述支撑机构上；

所述第二夹持条上设置有多个第二调节孔，且所述第二夹持条设置于所述支撑机构上，所述多个第二调节孔与所述多个第一调节孔一一对应。

本申请实施例中，机构本体包括第一夹持条和第二夹持条，第一夹持条上设置有多个第一调节孔，且第一夹持条设置于支撑机构上，第二夹持条上设置有多个第二调节孔，且第二夹持条设置于支撑机构上，多个第二调节孔与多个第一调节孔一一对应。其中，第一调节孔和第二调节用于设置夹持组件，如此，在本申请实施例提供的扫查架的使用过程中，通过改变夹持组件具体设置的第一调节孔和第二调节孔，即可调节夹持组件与机构本体的相对位置，调节过程简单便捷、易操作。

结合第一方面的第一种实施方式，本申请实施例提供了第一方面的第二种实施方式，所述夹持组件包括第一夹持件和第二夹持件；

所述第一夹持件与所述第一调节孔匹配，且能够设置于所述多个第一调节孔中的任意一个第一调节孔中；