[实用新型]一种电子元件检测装置

说明书

本实用新型公开了一种电子元件检测装置，包括机架、上料装置、检测机构和分拣机构，检测机构上设置有检测轨道，在检测轨道上通过输送装置对电子元件进行抓取输送，从而将电子元件沿检测轨道依次移动至与每组检测探针位置相对应，检测探针可检测电子元件的引脚电极，通过多组检测探针，将电子元件的所有引脚电极组合进行检测。之后电子元件移动至分拣机构上，通过系统控制分拣夹具夹持电子元件移动，如果电子元件存在质量问题，电子元件会在分拣夹具的作用下落入对应的分装箱内，而检测合格的电子元件会被分拣夹具直接输送出去，从而完成检测全过程。通过本方案，检测的过程全程自动化进行，省时省力，节省了大量的人力成本。

技术领域

本实用新型涉及检测领域，特别是一种电子元件检测装置。

背景技术

现在在电子领域内，各种电子元件是常用的零部件，这些电子元件大多都是将主要部件先进行封装，然后伸出电极引脚与其他元器件相连从而进行工作。然而存在的一个问题是，在电子元件生产完成后，不能确定电子元件的每个引脚是否都可以导通，如果存在某条引脚无法导通的话，这电子元件就是一个不良品。现有技术中，对电子元件的引脚电极进行检测一般是通过工人手持电极夹，然后对电子元件的引脚进行夹持判定，这种方式会消耗大量人力，而且存在误判的风险。而且判定的速度取决于每个工人的手速和经验。

实用新型内容

为解决上述技术问题，本实用新型的目的在于提供一种可以自动对电子元件引脚电极的导通与否进行检测的电子元件检测装置。

本实用新型为解决问题所采用的技术方案是：一种电子元件检测装置，包括：

机架；

上料装置，所述上料装置位于机架的一侧；

检测机构，所述检测机构位于机架上，所述检测机构位于上料装置后方，所述检测机构上设置有一个承料台，所述上料装置用于将电子元件按规定的顺序输送至承料台上；

检测轨道，所述检测轨道位于检测机构上，所述承料台可将电子元件按规定方式运输至检测轨道上，所述检测轨道上设置有一输送装置，所述输送装置可抓取电子元件并驱动电子元件在检测轨道上移动，所述检测轨道下方设置有若干组检测探针，每组检测探针可与电子元件不同的引脚组合抵接；

分拣机构，所述分拣机构设置于检测机构后方，所述分拣机构上设置有分装箱，所述分拣机构上设置有分拣夹具，所述分拣夹具可带动电子元件在分拣机构上移动至相应的分装箱上，所述分装箱用于分装存在不同问题的电子元件。

作为上述技术方案的进一步改进，所述检测探针底部设置有升降结构，所述升降结构用于驱动检测探针上下移动，从而抵接或远离电子元件的引脚。

作为上述技术方案的进一步改进，所述上料装置与检测轨道错位布置，所述承料台设置于上料装置与检测轨道之间并可在其间进行往复运动，所述承料台靠近上料装置的一侧设置有至少一个承料槽，所述承料槽用于承接电子元件，所述承料槽的宽度不大于一个电子元件的宽度，承料槽在同一时间内只会与上料装置或检测轨道中的一个相配合，所述承料台的另一侧可封堵所述上料装置的末端。

作为上述技术方案的进一步改进，所述输送装置包括：

第一夹具，所述第一夹具上设置有至少两组夹持槽，所述夹持槽朝向下方，所述第一夹具可夹持电子元件并限制电子元件向上移动；

驱动装置，所述驱动装置可驱动第一夹具移动，所述驱动装置包括：

水平驱动器，所述第一夹具位于水平驱动器上，所述水平驱动器可带动第一夹具沿检测轨道的长度方向上移动；

垂直驱动器，所述水平驱动器设置于垂直驱动器上，所述垂直驱动器可带动水平驱动器沿竖直方向运动。

作为上述技术方案的进一步改进，所述检测轨道包括：