[实用新型]一种光学检测系统

说明书

本实用新型涉及一种光学检测系统，包括LED光源、流通池及壳体，LED光源、流通池之间设有准直镜，流通池进口及出口分别设有第一导光柱及第二导光柱，第二导光柱通过光纤与壳体连接；壳体内设有狭缝、平面光栅、聚焦反射镜及CCD检测器，LED光源、准直镜、第一导光柱、第二导光柱、光纤、狭缝布置于同一轴线上；平面光栅设于狭缝的出射方向，用于将从狭缝射出的光色散到聚焦反射镜上，并通过聚焦反射镜将色散光聚焦在CCD检测器上。本实用新型能够解决在流动分析仪方面扣除光源漂移和样品基体导致的误差的背景问题，结构简单，可靠性高。并且，在电位分析仪方面，无法通过使用电位分析仪情况下，可利用光度电极在颜色变化判断等当点滴定中替代电位电极。

技术领域

本实用新型属于光度检测技术领域，尤其涉及一种光学检测系统。

背景技术

目前，流动分析仪器的光路和检测器常采用双色色度计自动扣除背景，结构由光源、流通池、半反半透镜、第一光路滤光片、第一光路检测器、第二光路滤光片、第二光路检测器等光学器件构成。这种结构有以下缺点：第一，需要两套光学元件和检测器，对两套光学元件和检测器的一致性要求高。第二，半反半透镜的使用，减弱了光强，降低了信噪比。第三，滤光片使用较长时间边缘变黑需要更换。第四，较好的带通滤光片的半带宽(FWHM)5-10nm，分辨率低，导致复杂基体干扰物质对显色反应的影响的较大。

目前，电位分析仪主要以电位电极为主，当无法通过电位变化判断等当点或者标准方法使用指示剂或手工滴定代替人工判定滴定终点等。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种光学检测系统，使用背景扣除技术，解决在流动分析仪方面扣除光源漂移和样品基体导致的误差的问题，也使光学结构和检测器设计简化，提高仪器的可靠性。并在电位分析仪方面，无法通过使用电位分析仪情况下，可利用光度电极在颜色变化判断等当点滴定中替代电位电极。

本实用新型提供了一种光学检测系统，包括LED光源、流通池及壳体，LED光源、流通池之间设有准直镜，流通池进口及出口分别设有第一导光柱及第二导光柱，第二导光柱通过光纤与壳体连接；

壳体内设有狭缝、平面光栅、聚焦反射镜及CCD检测器，LED光源、准直镜、第一导光柱、第二导光柱、光纤、狭缝布置于同一轴线上，用于将LED光源发射的光依次经过准直镜、第一导光柱、第二导光柱、光纤入射到狭缝内；

平面光栅设于狭缝的出射方向，用于将从狭缝射出的光色散到聚焦反射镜上，并通过聚焦反射镜将色散光聚焦在CCD检测器上。

进一步地，流通池由玻璃或石英制成。

进一步地，第一导光柱及第二导光柱分别镶嵌于流通池的进口及出口。

进一步地，光纤通过第一光纤接头及第二光纤接头分别与第二导光柱及壳体连接。

借由上述方案，通过光学检测系统，具有如下技术效果：

1)该结构光路只有一条，能够保证光学元件的一致性。

2)由于该结构不存在滤光片，该系统适合不同流动分析测试模块，无需更换滤光片。

3)流通池两端导光柱，能够减少流通池壁对光的反射或折射。

4)该结构无任何移动或转动光学元件，能够保证测试结果的可靠性。

5)对于光源漂移和样品基体造成的误差，通过双波长校正技术，波长选择可设置。

6)波长分辨率可达1nm，去除复杂基体干扰，提高分析结果的准确性，且波长分辨率可调。

7)该结构体积小型化。

8)可用于光度电极。